北京瑞宇科技有限公司
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更新時(shí)間：2023-03-23 11:21:32瀏覽次數：596次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)s-SNOM，散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡，是一種在納米尺度上進(jìn)行光-物質(zhì)相互作用的通用型探針，是一種用于繪制復雜光學(xué)性質(zhì)和具有納米尺度空間分辨率材料現象的強大技術(shù)。
s-SNOM技術(shù)使用金屬鍍層的原子力（AFM）探針針尖代替傳統光纖探針來(lái)增強樣品的納米尺度區域的散射，散射信號可以在遠場(chǎng)被檢測到。而這些散射信號攜帶了樣品在金屬探針針尖下納米級區域的復雜光學(xué)性質(zhì)。具體而言，這些散射光的信息包括光的振幅和相位，通過(guò)適當的模型，這些測量可以估算出針尖下樣品納米尺度區域材料的光學(xué)常數（n，k）。在某些情況下，光學(xué)相位與波長(cháng)還提供了一個(gè)與同種材料常規吸收光譜近似的光譜信息。
瑞宇科技的散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡建立在基于具有*地位的納米光學(xué)表征工具原子力顯微鏡AFM的基礎之上。s-SNOM設計具有非常優(yōu)秀的性能，高度集成，全面自動(dòng)化，使用靈活，為研究生產(chǎn)力和易用性設定了新的標準。
瑞宇科技的散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡特別適用于硬質(zhì)材料，特別是具有高反射率、高介電常數或強光學(xué)共振的材料。它與瑞宇科技的納米紅外光譜成像顯微鏡（NanoIR）配合使用，可以完成對所有物質(zhì)納米尺度的化學(xué)性質(zhì)分析及探索。
瑞宇科技的散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡的分辨率僅由AFM針尖的曲率半徑?jīng)Q定，與入射光源的波長(cháng)無(wú)關(guān)，能夠在可見(jiàn)、紅外和太赫茲光譜范圍內，提供10nm空間分辨率的光譜和近場(chǎng)光學(xué)圖像。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
? 10nm空間分辨率近場(chǎng)成像和光譜；
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? 特別的快速成像和采譜技術(shù)，10倍于傳統的空間光譜成像；
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? 特別的背景壓制技術(shù)和高效光學(xué)信號收集技術(shù)，確保在10nm空間分辨率下仍然保持的信噪比；
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? 預先校準光路，操作極其簡(jiǎn)便；
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? 模塊化設計，可拓展性強；
產(chǎn)品參數：
成像波段：900～2000cm-1，2235～3600cm-1
?空間分辨率：10～100nm
應用：
由于瑞宇科技的散射式近場(chǎng)光學(xué)顯微鏡和光譜譜圖的可靠性和可重復性，s-SNOM業(yè)已成為納米光學(xué)領(lǐng)域熱點(diǎn)研究方向的優(yōu)先選擇科研設備，廣泛適用于各種無(wú)機物和有機物，如表面等離子體、納米天線(xiàn)、2D材料（石墨烯，BN），納米結構，半導體，絕緣體，生命科學(xué)，高分子材料等，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到許多重要科研成果。
石墨烯等離子體的s-SNOM相位和振幅圖像（上—相位圖像三維視圖；左—相位和SPP駐波線(xiàn)橫截面；右—s-SNOM振幅圖）
光學(xué)近場(chǎng)顯微鏡的光譜和成像。（上—波長(cháng)相關(guān)的復雜光學(xué)性質(zhì)；下左—共振（1659cm-1）的s-SNOM相位圖像；下右—非共振（1605cm-1）的s-SNOM相位圖像）
s-SNOM圖像顯示了棒狀天線(xiàn)上的偶極子散射。（上—覆蓋在形貌圖上的s-SNOM圖像；下左—AFM圖像；下右—s-SNOM圖像）
紫外膜的s-SNOM測量揭示了蛋白質(zhì)在脂質(zhì)膜內的分布。（上—AFM高度圖；下左—當紅外激光源調諧到酰胺I吸收帶產(chǎn)生共振時(shí)（1667cm-1）s-SNOM相位圖像；下右—非共振時(shí)（1618cm-1）s-SNOM相位圖像）
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