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更新時(shí)間：2025-02-21 10:07:20瀏覽次數：23次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)PAUT系統可實(shí)現環(huán)焊縫和縱焊縫的檢測，能夠同時(shí)實(shí)現A掃描、B掃描、TOFD灰度圖像、相控陣S掃描成像。使用PA檢測方法彌補了TOFD檢測時(shí)產(chǎn)生的上下表面盲區的不足，直觀(guān)的反應出表面及內部的埋藏缺陷的形態(tài)。下面介紹PAUT中相控陣檢測、C掃描、TOFD和PA的特點(diǎn)和優(yōu)勢：（一）PAUT系統中相控陣檢測的優(yōu)勢：1. 成像直觀(guān)2. 檢測效率高3. 可以存儲檢測記錄4. 可檢測大壁厚零件覆蓋上下表面盲區（二）C掃描成像的優(yōu)勢檢測除焊縫以外的其他復雜形狀零件，對氣孔類(lèi)缺陷檢出率較高，同時(shí)對焊帽里面的缺陷也可以檢出（三）TOFD和PA的優(yōu)勢PAUT系統實(shí)現TOFD和PA相結合的掃查檢測，該系統能夠實(shí)現A/B/C/S掃查圖像，檢測可以實(shí)時(shí)保存，便于后續查驗審核。
PAUT系統可實(shí)現環(huán)焊縫和縱焊縫的檢測，能夠同時(shí)實(shí)現A掃描、B掃描、TOFD灰度圖像、相控陣S掃描成像。使用PA檢測方法彌補了TOFD檢測時(shí)產(chǎn)生的上下表面盲區的不足，直觀(guān)的反應出表面及內部的埋藏缺陷的形態(tài)。下面介紹PAUT中相控陣檢測、C掃描、TOFD和PA的特點(diǎn)和優(yōu)勢：
（一）PAUT系統中相控陣檢測的優(yōu)勢：
1. 成像直觀(guān)
2. 檢測效率高
3. 可以存儲檢測記錄
4. 可檢測大壁厚零件覆蓋上下表面盲區
（二）C掃描成像的優(yōu)勢
檢測除焊縫以外的其他復雜形狀零件，對氣孔類(lèi)缺陷檢出率較高，同時(shí)對焊帽里面的缺陷也可以檢出
（三）TOFD和PA的優(yōu)勢
PAUT系統實(shí)現TOFD和PA相結合的掃查檢測，該系統能夠實(shí)現A/B/C/S掃查圖像，檢測可以實(shí)時(shí)保存，便于后續查驗審核。
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