MC-2000D涂層測厚儀 返回列表頁(yè)

  MC-2000D涂層測厚儀是一款便攜式磁性涂鍍層測厚儀，涂層測厚儀又稱(chēng)鍍層測厚儀，漆膜測厚儀，油漆測厚儀，涂鍍層測厚儀，電鍍層測厚儀，薄膜測厚儀，覆層測厚儀，電鍍測厚儀等，該儀器采用磁感應測厚原理，可以無(wú)損的測量出磁性基體上非導磁涂覆層材料的厚度。磁感應方法可用來(lái)精確測量所有磁性基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)表面上非磁性涂鍍層，例如：油漆層，瓷、搪瓷防護層，塑料、橡膠覆層，合成材料，包括各種有色金屬鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘電鍍層或磷化層，瓷，琺瑯，氧化層等。以及化工石油作業(yè)的各種防腐涂層。

  磁性涂層測厚儀原理：采用磁感應原理時(shí)，利用從測頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來(lái)測定覆層厚度。也可以測定與之對應的磁阻的大小，來(lái)表示其覆層厚度。覆層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應原理的測厚儀，原則上可以有導磁基體上的非導磁覆層厚度。一般要求基材導磁率在500以上。如果覆層材料也有磁性，則要求與基材的導磁率之差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當軟芯上繞著(zhù)線(xiàn)圈的測頭放在被測樣本上時(shí)，儀器自動(dòng)輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應電動(dòng)勢的大小，儀器將該信號放大后來(lái)指示覆層厚度。近年來(lái)的電路設計引入穩頻、鎖相、溫度補償等地新技術(shù)，利用磁阻來(lái)調制測量信號。還采用設計的集成電路，引入微機，使測量精度和重現性有了大幅度的提高（幾乎達一個(gè)數量級）?，F代的磁感應測厚儀，分辨率達到0.1um，允許誤差達1%，量程達10mm。 

   磁性涂鍍層測厚儀應用范圍：可以方便無(wú)損地測量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度，如鋼鐵表面上的鋅、銅、鉻等鍍層或油漆、搪瓷、玻璃鋼、噴塑、瀝青等涂層的厚度。該涂層測厚儀器廣泛應用于機械、汽車(chē)、造船、石油、化工、電鍍、噴塑、搪瓷、塑料等行業(yè)。

  MC-2000D型涂（鍍）層測厚儀儀器特點(diǎn)： MC-2000D涂層測厚儀（鍍層測厚儀）測量范圍：10～9000μm，它是的結晶,它采用單片機技術(shù)，精度高、可靠性高、數字顯示、示值穩定、功耗低、操作簡(jiǎn)單方便、觸摸按鍵、單探頭全量程測量、體積小、重量輕；且具有存儲、讀出、統計、低電壓指示、系統校準。

  MC-2000D涂層測厚儀圖片：

  MC-2000D型涂層測厚儀主要技術(shù)性能：

　　1、測量范圍：10~9000um

　　2、測量誤差：<>

　　3、最小示值：1um

　　4、顯示方式：4位液晶數字顯示

　　5、主要功能：

　?。?）測量：?jiǎn)翁筋^全量程測厚

　?。?）存儲、刪除：可存入測量數據600個(gè)，對測量中的單個(gè)可疑數據進(jìn)行刪除，也可以刪除存儲區內的所有數據。

　?。?）讀：讀出已存入的測量數據

涂層測厚儀，漆膜測厚儀，防腐層測厚儀，涂層測厚儀價(jià)格，涂層測厚儀廠(chǎng)家，山東涂層測厚儀

　?。?）統計：設有三個(gè)統計量，平均值值最小值

　?。?）校準：可進(jìn)行系統校準

　?。?）電量：具有欠壓顯示功能

　?。?）打?。嚎纱蛴y量值，選配微型打印機

　?。?）關(guān)機：具有自動(dòng)關(guān)機和手動(dòng)關(guān)機兩種方法

　　6、電源：兩節1.5v電池

　　7、功耗：功耗100mw

　　8、外形尺寸：126mm*51mm*27mm

　　9、重量：160g（含電池）

　　10、使用環(huán)境溫度：0℃~＋40℃相對濕度：不大于90%

　　11、基體最小厚度：0.5mm

　　12、基體最小平面的直徑：7mm

　　13、最小曲率半徑：凸：1.5mm 凹：6mm

　　14、欠電壓指示：右上角顯示＂＂

　　*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí)，其涂（鍍）層厚度的測量不受鐵基厚度影響。

  影響MC-2000D型涂層測厚儀測量結果的因素：

　a 基體金屬磁性質(zhì)

　　磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響（在實(shí)際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準；亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準。

　　b 基體金屬電性質(zhì)

　　基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進(jìn)行校準。

　　c 基體金屬厚度

　　每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度。大于這個(gè)厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響。本儀器的臨界厚度值見(jiàn)附表1。

　　d 邊緣效應

　　本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內轉角處進(jìn)行測量是不可靠的。

　　e 曲率

　　試件的曲率對測量有影響。這種影響總是隨著(zhù)曲率半徑的減少明顯地增大。因此，在彎曲試件的表面上測量是不可靠的。

　　f 試件的變形

　　測頭會(huì )使軟覆蓋層試件變形，因此在這些試件上測出可靠的數據。

　　g 表面粗糙度

　　基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響。粗糙程度增大，影響增大。粗糙表面會(huì )引起系統誤差和偶然誤差，每次測量時(shí)，在不同位置上應增加測量的次數，以克服這種偶然誤差。如果基體金屬粗糙，還必須在未涂覆的粗糙度相類(lèi)似的基體金屬試件上取幾個(gè)位置校對儀器的零點(diǎn)；或用對基體金屬沒(méi)有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后，再校對儀器的零點(diǎn)。

　　g 磁場(chǎng)

　　周?chē)鞣N電氣設備所產(chǎn)生的強磁場(chǎng)，會(huì )嚴重地干擾磁性法測厚工作。

　　h 附著(zhù)物質(zhì)

　　本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著(zhù)物質(zhì)敏感，因此，必須清除附著(zhù)物質(zhì)，以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸。

　　i 測頭壓力

　　測頭置于試件上所施加的壓力大小會(huì )影響測量的讀數，因此，要保持壓力恒定。

　　j 測頭的取向

　　測頭的放置方式對測量有影響。在測量中，應當使測頭與試樣表面保持垂直。

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