詳細摘要： MTB系列黑體是用于模擬中等溫度目標的超精密面源黑體，輻射體溫度使用薄型面源加熱元件控制
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時(shí)間：2023-12-11 在線(xiàn)留言北京費恩科技有限公司
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詳細摘要： MTB系列黑體是用于模擬中等溫度目標的超精密面源黑體，輻射體溫度使用薄型面源加熱元件控制
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹BLIQ黑體是TCB黑體的特殊版本，當黑體工作在20℃的環(huán)境溫度下，溫度范圍可擴展至-40℃
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詳細摘要： NIGHTMET–像增強器模擬軟件，是用于模擬像增強器在采用顯微鏡對于像增強器的一部分在不同的亮度等級下進(jìn)行分辨率測試過(guò)程的模擬，用戶(hù)可以對亮度進(jìn)行調節用于模擬...
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詳細摘要： SIMTERM–熱像儀模擬軟件是用軟件來(lái)模擬一個(gè)給定的熱像儀系統產(chǎn)生的紅外圖像
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詳細摘要： SIMAT外觀(guān)圖SIMAT模擬器是一個(gè)模塊化的圖像投影系統用于模擬在光視距范圍內兩個(gè)或者多個(gè)可變強度，可變角尺寸，可變光譜，在均勻背景下的的動(dòng)態(tài)目標
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詳細摘要： MULTIC寬帶多光譜成像儀測試系統是為測試遠距離寬帶多光譜成像儀而開(kāi)發(fā)的專(zhuān)業(yè)測試系統
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詳細摘要： STR測試系統外形圖STR測試系統是一個(gè)面向條紋管的重要參數測試的多功能的測試系統，包括輻射參數，空間參數以及時(shí)間參數
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹：從設計的角度看，SOL測試系統是一種能夠進(jìn)行光譜帶寬階躍調節、光強連續調節的標定光源，對被測成像探測器和圖像處理系統進(jìn)行照射，進(jìn)而分析被測成像探測器（...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹TRAL測試系統外形圖a)輻射配置，b)光譜配置TRAL測試系統原理圖:a)輻射配置，b)光譜配置TRAL紅外探測器通用測試系統用于測量在700nm到1...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹：SIT測試系統是兩個(gè)主要模塊的總和：波長(cháng)和光強連續可調的校準光源SITO和IPS圖像處理系統（PC、圖像采集卡、軟件）
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹VIT測試系統外形圖VIT型VIS-SWIR成像探測器測試系統是一個(gè)可擴展的用于測試硅成像探測器、黑硅成像探測器以及InGaAs成像探測器的測試系統，支...
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詳細摘要： SPOT測試系統的外形圖SPOT中波紅外焦平面陣列空間響應測試系統是掃描式光斑投影系統，它將高亮度的極小光斑投射到被測MWIRFPA表面上，同時(shí)測量其輸出信號
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹紅外輻照器外形圖紅外輻照器模塊組成圖MIRAD輻照器的設計思路整合了三個(gè)模塊(MTB中溫的黑體，VAB光機輻射衰減器和三個(gè)TP透射管），三個(gè)模塊組合一起...
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詳細摘要： 產(chǎn)品介紹FT測試系統的FT-N配置（噪聲/響應參數的測量）FT測試系統FT-I配置（成像質(zhì)量參數測量）FT測試系統的FT-S配置（光譜參數測量）紅外焦平面陣列是...
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詳細摘要： 由于有部分科研項目需要采用非美軍標的方法對像管進(jìn)行詳細的測量，針對這些科研項目需求Inframet開(kāi)發(fā)了IRAD測量系統，用于對像增強器的輻亮度和時(shí)間響應參數的...
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詳細摘要： THP太赫茲相機測試系統THP太赫茲相機測試系統用于測試被動(dòng)式太赫茲相機，所使用的測試方法與LAFT熱像儀測試系統一致:一段距離外的參考靶標經(jīng)被測熱像儀成像，分...
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詳細摘要： IPAS測量系統是通用的測試系統，能夠測量二代像管不同電極間的電壓，檢測像管的電源
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詳細摘要： ITR測量系統用于測試像增強器的可靠性參數：標準可靠性，衰老可靠性，燒傷，亮點(diǎn)保護等參數
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詳細摘要： ITIP是Inframet設計生產(chǎn)的用于測試像增強器的測試系統
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