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    行業(yè)產(chǎn)品

    • 行業(yè)產(chǎn)品

    大塚電子(蘇州)有限公司


    • 液晶層間隙量測設備 RETS series2

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策,可對應液晶line...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • 彩色濾光片、彩色光刻膠測量裝置 LCF SERIES2

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 以透過(guò)光譜測量、色測量為代表,通過(guò)濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • 高速相位差測量裝置 RE-200

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 可測從0nm開(kāi)始的低(殘留)相位差 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.) (相當于快速的0.1秒以下來(lái)處理) 無(wú)驅動(dòng)部,重復再現性高 設置的...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • 相位差測量裝置 RETS-100nx New2

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策,可對應液晶line...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • MCPD series 在線(xiàn)評估測試系統

      詳細摘要: 本公司的MCPD series在線(xiàn)膠卷評價(jià)系統,由于光學(xué)式非接觸·非破壞的膜厚,濃度,顏色等的檢查可能??蓽y定膜厚范圍為65nm~92μm和薄膜到厚膜都對應。(...

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    • 膜厚測量系統 FE-3700/5700

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特殊長(cháng)度 可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學(xué)常數。 除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外,它還支持 LCD、TFT 和有機...

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    • 液晶層間隙量測設備 RETS series

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策,可對應液晶line...

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    • 嵌入式膜厚檢測儀

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統( 第4834847號) 使用光學(xué)光纖,可靈活構筑測量系統 可嵌入至各種制造設備。 實(shí)時(shí)測量膜厚 ...

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    • 彩色濾光片、彩色光刻膠測量裝置 LCF SERIES

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 以透過(guò)光譜測量、色測量為代表,通過(guò)濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻...

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    • 用于透過(guò)率/吸光度測量的多通道光譜儀MCPD series

      詳細摘要: 是從紫外到近紅外領(lǐng)域對應的多功能多通道分光檢測器。最短5ms即可進(jìn)行光譜測量。標準裝置的光纖可支持各種測量系統,而無(wú)需確定樣品種類(lèi)。以顯微分光、光源發(fā)光、透射、...

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    • 高靈敏度光譜儀 HS-10002

      詳細摘要: 特點(diǎn): 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量, 對應CIE推薦的...

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    • 分光配光測量系統 GP series

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特殊長(cháng)度 支持長(cháng)達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量 還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量 可以自動(dòng)控制2軸測角儀測量每個(gè)角度的光譜分...

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    • 分光輻射照度測量系統

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特殊長(cháng)度 該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,在光源測量、反射/透射測量、過(guò)程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光和可見(jiàn)光到紅外...

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    • 高速LED光學(xué)特性?xún)x LE series

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 與產(chǎn)線(xiàn)的控制信號同步 通過(guò)光纖的自由的測試系統 實(shí)現最短2ms~的光譜測量(LE-5400) 同以往的產(chǎn)品相比,測量?演算?評價(jià)1個(gè)周期有可到...

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    • ZETA電位·粒徑·分子量測系統 ELSZ-2000ZS2

      詳細摘要: 特點(diǎn) 使用了型高感度APD,感度提升及縮短測量時(shí)間 通過(guò)測量自動(dòng)溫度梯度空間,可分析出変性相轉移溫度 可測量0~90℃大范圍內的溫度 追加了大范圍的分子量測量及...

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    • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測系統 ELSZ-2000Z

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 使用了型高感度APD,感度提升及縮短測量時(shí)間 通過(guò)測量自動(dòng)溫度梯度空間,可分析出変性相轉移溫度 可測量0~90℃大范圍內的溫度 追加了大范圍的分...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測系統 ELSZ-2000ZS

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 使用了型高感度APD,感度提升及縮短測量時(shí)間 通過(guò)測量自動(dòng)溫度梯度空間,可分析出変性相轉移溫度 可測量0~90℃大范圍內的溫度 追加了大范圍的分...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSZneoSE

      詳細摘要: 本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專(zhuān)用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據用途,可以根據需要定制任意數量的必要功能。...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo2

      詳細摘要: 【ELSZneo使光散射的物性評價(jià)邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potenti...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo

      詳細摘要: 【ELSZneo使光散射的物性評價(jià)邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potenti...

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