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    行業(yè)產(chǎn)品

    • 行業(yè)產(chǎn)品

    大塚電子(蘇州)有限公司


    • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo3

      詳細摘要: 【ELSZneo使光散射的物性評價(jià)邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potenti...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-02-01 在線(xiàn)留言

    • ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSZneoSE2

      詳細摘要: 本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專(zhuān)用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據用途,可以根據需要定制任意數量的必要功能。...

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    • 多樣品納米粒子徑測試系統·nanoSAQLA

      詳細摘要: ● nanoSAQLA是一臺通過(guò)動(dòng)態(tài)光散亂法(DLS法)測量粒徑(粒徑0.6nm~10um)的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內的多檢體測定的新光學(xué)系統,實(shí)...

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    • 多樣品nano粒子徑測量系統 nanoSAQLA(帶自動(dòng)取樣器 AS50)

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) nanoSAQLA 的特點(diǎn) 1個(gè)單元可輕松連續測量5個(gè)樣品 實(shí)現了 在沒(méi)有自動(dòng)進(jìn)樣器的情況下難以 實(shí)現的 多個(gè)樣品的 連續測量, 也可以通過(guò)改變...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-02-01 在線(xiàn)留言

    • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZ-2000ZS

      詳細摘要: ●可測量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑,并可進(jìn)行分子量測量的檢測裝置?!襁m用于粒徑測量范圍(0.6nm~10um),濃度范圍(0.00001%~40%)...

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    • 顯微分光膜厚儀 OPTM series2

      詳細摘要: ●非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ●OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折射率n、消光系數k、反射率的新型高精度、高性?xún)r(jià)比...

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    • 膜厚量測儀 FE-300

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 長(cháng) 薄膜到厚膜的測量范圍、UV~NIR光譜分析 高性能的低價(jià)光學(xué)薄膜量測儀 藉由反射率光譜分析膜厚 完整繼承FE-3000機種90%的強大功能 無(wú)...

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    • 嵌入式膜厚檢測儀2

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用分光干涉法 搭載高精度FFT膜厚解析系統( 第4834847號) 使用光學(xué)光纖,可靈活構筑測量系統 可嵌入至各種制造設備。 實(shí)時(shí)測量膜厚 ...

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    • 橢偏儀 FE-5000/5000S

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可在紫外和可見(jiàn)(250至800nm)波長(cháng)區域中測量橢圓參數 可分析納米級多層薄膜的厚度 可以通過(guò)超過(guò)400ch的多通道光譜快速測量Ellipso...

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    • 分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3

      詳細摘要: 即時(shí)檢測 WAFER基板于研磨制程中的膜厚 玻璃基板于減薄制程中的厚度變化 (強酸環(huán)境中) 產(chǎn)品特色 非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測 采用分光干涉法實(shí)現高度檢...

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    • 多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特長(cháng) 應用廣泛的測量?jì)x。 以機型MCPD-9800為首,一共有3種對應12波長(cháng)領(lǐng)域的測量?jì)x。 我們可以根據客戶(hù)的需求和用途提出的方案。 不同評價(jià)方法對...

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    • 總光譜光通量測量系統 HM/FM series

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 可處理高達2400mm的直管光學(xué)總光通量測量 測量系統符合IESNA的LM-79和LM-80標準 采用新的探測器,可以進(jìn)行廣動(dòng)態(tài)范圍的測量 測量...

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    • 紫外分光輻射照度測量系統 New

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特征 該檢測器 是一種高性能的分光光度計 ,在光源測量、反射/透射測量、過(guò)程測量等 方面取得 了 多項成果 。 覆蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的寬波長(cháng)范圍 帶軟...

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    • 紫外分光全光譜光通量測量系統

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特征 具有高靈敏度檢測器的寬測量范圍 具有紫外線(xiàn)自吸收校正的高精度測量 配備溫度控制單元,可從-110C進(jìn)行溫度控制 涵蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的波長(cháng)范圍 ...

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    • 紫外分光配光測量系統

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特征 通過(guò)分光光度分布對紫外光進(jìn)行高精度測量 從配光上評估紫外光的發(fā)光強度、光束開(kāi)度、光束光通量 涵蓋從紫外線(xiàn)到可見(jiàn)光的波長(cháng)范圍 支持從 LED 芯片...

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    • 高感度分光輻射亮度計 HS-1000

      詳細摘要: 特點(diǎn): 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量, 對應CIE推薦的...

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    • 高速LED光學(xué)特性?xún)x LE series2

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 與產(chǎn)線(xiàn)的控制信號同步 通過(guò)光纖的自由的測試系統 實(shí)現最短2ms~的光譜測量(LE-5400) 同以往的產(chǎn)品相比,測量?演算?評價(jià)1個(gè)周期有可到...

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    • 量子效率測量系統 QE-2100

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 測量精度高 可瞬間測量量子效率(量子收率) 可去除再激勵熒光發(fā)光 采用了積分半球unit,實(shí)現了明亮的光學(xué)系 采用了低迷光多通道分光檢出器,大...

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    • 高靈敏度近紅外量子效率測量系統 QE-5000 New

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特殊長(cháng)度 可以測量0.01%或更低的單線(xiàn)態(tài)氧的產(chǎn)生量子產(chǎn)率。 單線(xiàn)態(tài)氧 (1270 nm) 的簡(jiǎn)單直接光譜觀(guān)察 可在用于生物應用等的水性溶劑中測量。 ...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • 小角激光散射儀 PP-1000

      詳細摘要: PP-1000小角激光散射儀,利用小角激光散射法(Small Angle Laser Scattering,簡(jiǎn)稱(chēng)SALS),可以對高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測,...

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