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    行業(yè)產(chǎn)品

    • 行業(yè)產(chǎn)品

    大塚電子(蘇州)有限公司


    • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測系統 ELSZ-2000ZS

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 使用了型高感度APD,感度提升及縮短測量時(shí)間 通過(guò)測量自動(dòng)溫度梯度空間,可分析出変性相轉移溫度 可測量0~90℃大范圍內的溫度 追加了大范圍的分...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • ZETA電位 · 粒徑測試系統·ELSZneoSE

      詳細摘要: 本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測量專(zhuān)用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據用途,可以根據需要定制任意數量的必要功能。...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo2

      詳細摘要: 【ELSZneo使光散射的物性評價(jià)邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potenti...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測試系統·ELSZneo

      詳細摘要: 【ELSZneo使光散射的物性評價(jià)邁向新舞臺】ELSZneo是ELSZ series的機型,除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位(Zeta Potenti...

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    • 超高速分光涉式膜厚儀

      詳細摘要: 以非接觸方式測量晶圓等的研磨和拋光工藝,超高速、實(shí)時(shí)、高精度測量晶圓和樹(shù)脂 產(chǎn)品詳細信息 特點(diǎn) 非接觸式,非破壞性厚度測量 反射光學(xué)系統(可從一側接觸測量) 高...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • 高靈敏度光譜儀 HS-1000

      詳細摘要: 特點(diǎn): 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法(衍射光柵), 0.005cd / m 2的超低亮度到400,000cd / m 2的高亮度都可測量, 對應CIE推薦...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • 顯微分光膜厚儀 OPTM series

      詳細摘要: ●非接觸 · 非破壞 · 顯微、對焦、測量1秒完成 ●OPTM系列顯微分光膜厚儀是一款可替代橢偏儀,測試膜厚、折射率n、消光系數k、反射率的新型高精度、高性?xún)r(jià)比...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • MCPD series 嵌入式膜厚測試型

      詳細摘要: 本公司的MCPD series,由于采用柔軟纖維的事,從In-Situ到內聯(lián)各種各樣的地方和用途的編入成為可能。測量原理為分光干涉方式,在實(shí)現高測量再現性的同時(shí)...

      產(chǎn)品型號:所在地:蘇州市更新時(shí)間:2024-01-09 在線(xiàn)留言

    • 高速延遲測量裝置 RE-2002

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 可測從0nm開(kāi)始的低(殘留)相位差 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.) (相當于快速的0.1秒以下來(lái)處理) 無(wú)驅動(dòng)部,重復再現性高 設置的...

      產(chǎn)品型號:所在地:更新時(shí)間:2023-06-10 在線(xiàn)留言

    • 高速延遲測量裝置 RE-200

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 可測從0nm開(kāi)始的低(殘留)相位差 光軸檢出同時(shí)可高速測量相位差(Re.) (相當于快速的0.1秒以下來(lái)處理) 無(wú)驅動(dòng)部,重復再現性高 設置的...

      產(chǎn)品型號:所在地:更新時(shí)間:2023-06-10 在線(xiàn)留言

    • 相位差測量裝置 RETS-100nx New

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特 點(diǎn) 采用了偏光光學(xué)系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置,從1mm大小的光學(xué)素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策,可對應液晶line...

      產(chǎn)品型號:所在地:更新時(shí)間:2023-06-09 在線(xiàn)留言

    • 彩色濾光片分光特性測量裝置 LCF series

      詳細摘要: 產(chǎn)品信息 特點(diǎn) 以透過(guò)光譜測量、色測量為代表,通過(guò)濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等,可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學(xué)特性或玻...

      產(chǎn)品型號:所在地:更新時(shí)間:2023-06-08 在線(xiàn)留言



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