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    行業(yè)產(chǎn)品

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    上海杜美精密儀器有限公司


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    熱場(chǎng)發(fā)射環(huán)境掃描電鏡

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    產(chǎn)品型號Quattro

    品       牌

    廠(chǎng)商性質(zhì)其他

    所  在  地上海

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    更新時(shí)間:2024-10-14 09:22:41瀏覽次數:65次

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    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    1、升級后的新產(chǎn)品-環(huán)境掃描技術(shù)的高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡

    詳細介紹

    1、升級后的新產(chǎn)品-環(huán)境掃描技術(shù)的高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡。 

    2、齊全的配置 

    Quattro 場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡給用戶(hù)配置了高真空的二次電子探頭,低真空的二次電子探頭,環(huán)境真空下的二次電子探頭,以及背散射電子探頭,和紅外CCD 探頭。能滿(mǎn)足用戶(hù)在日后工作中所有可能遇到的情況,以降低用戶(hù)對樣品制備的要求。 

    低真空/環(huán)境真空技術(shù)使得不導電樣品和/或含水樣品不經(jīng)導電處理即可直接成像和分析,樣品表面無(wú)電荷累積現象。 

    3、的電子光學(xué)技術(shù)成熟的肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍、固定式末級光闌、60°/45°兩級錐度極靴、大工作距離精密聚焦技術(shù)等,能對導電和不導電樣品進(jìn)行EDS/EBSD 分析,在高真空模式,低真空模式,或環(huán)境真空模式。

    穩定的大束流(200 nA) 確保能譜及EBSD 分析工作的快速與準確。

    4、“穿過(guò)透鏡” 壓差真空系統設計


    普通高真空掃描電子顯微鏡的樣品室和鏡筒都處于高真空狀態(tài),要求所分析的樣品必須是固體的導電樣品,如果樣品不是固體和導電的,需要對樣品進(jìn)行處理,使樣品達到要求。然而,在研究工作中所遇到的樣品中,固體導電樣品只是很少一部分,通常我們還會(huì )遇到非導電固體樣品,表面含水、含油的固體樣品以及非固態(tài)樣品。

    在環(huán)境掃描電子顯微鏡中,通過(guò)特殊的真空系統設計,采用三個(gè)區域兩個(gè)不同的泵來(lái)抽真空,樣品室的真空度降低,使得不適應高真空的樣品能夠保持保持原始狀態(tài),在掃描電子顯微鏡中進(jìn)行觀(guān)察和分析。

    與此同時(shí),掃描電子顯微鏡的鏡筒部分仍然處于高真空狀態(tài),滿(mǎn)足電子光學(xué)系統的要求。在環(huán)境掃描電子顯微鏡中,通過(guò)向樣品室充水汽,可保持含水樣品和生物樣品的原始狀態(tài)。FEI/飛利浦環(huán)境掃描電子顯微鏡的樣品室氣體壓力可在10Pa ~ 4000Pa 之間改變,達到樣品中水的平衡,或進(jìn)行樣品的脫水、增濕測試。

    5、二次電子探測器

    在普通高真空掃描電子顯微鏡中,采用的是E二次電子探測器。這種探測器在低真空狀態(tài)下不能工作。為了能夠在樣品室低真空狀態(tài)下探測二次電子信號,FEI/飛利浦公司開(kāi)發(fā)了低真空二次電子探測器GSED。

    GSED 二次電子探測器的分辨率可達到< 1.4 nm ,與普通高真空電鏡的分辨率指標相同。而且,GSED 探測器克服了E探測器的缺點(diǎn),可觀(guān)察發(fā)光、加熱的樣品。

    6、特殊的樣品倉設計284mm 大型樣品倉,整體鑄造而成,在5軸馬達全自動(dòng)驅動(dòng),給用戶(hù)雙重保證。在手動(dòng)操作時(shí), xT‐電鏡控制軟件也監控樣品臺的運行保證樣品上座標的性。樣品位置和觀(guān)察條件記憶功能允許用戶(hù)將感興趣的區域的位置和電鏡條件記憶下來(lái)可隨時(shí)回復記憶的位置和觀(guān)察條件方便用戶(hù)的對比分析工作。

    7、的單窗口和四窗口操作界面

    同時(shí)可以顯示二次電子像,背散射像,以及他們的混合像,還有紅外CCD 實(shí)時(shí)監控像。

    這樣可以獲得的信息??刂茀^功能使用非常人性化控制功能易于接近。

    8、特殊的紅外CC設計

    紅外CCD 探頭設計,不僅可以實(shí)時(shí)監控樣品倉的內部情況,同時(shí)可以通過(guò)這個(gè)窗口控制樣品臺的移動(dòng),還可以利用這個(gè)床空拍攝低倍照片進(jìn)行導航。

    9、分析型末級光闌。

    在一般的低真空掃描電子顯微鏡中,在低真空狀態(tài)下,能譜分析的空間分辨率和分析精度大大降低,基本喪失了能譜分析的實(shí)用性。在環(huán)境掃描電子顯微鏡中,FEI/飛利浦配置了分析型末級光闌,能夠保證在低真空狀態(tài)下的能譜分析的空間分辨率和分析精度。

    10、數字化掃描技術(shù)

    在Quattro掃描電鏡中FEI飛利浦采用了數字化的電子束掃描技術(shù)無(wú)論是通過(guò)QuantxT‐控制軟件對電鏡進(jìn)行操作還是外接的第三方分析設備都是基于網(wǎng)絡(luò )結構進(jìn)行數字化掃描控制。例如如果用戶(hù)在Quant上安裝能譜儀系統能譜儀公司只要將其為Quant設計的能譜探頭安裝在Quattro樣品室上將其為Quattro 設計的能譜分析器通過(guò)Quattro提供的網(wǎng)絡(luò )集線(xiàn)器進(jìn)行網(wǎng)絡(luò )連接能譜儀就可通過(guò)Quattro的數字化掃描器來(lái)控制電子束在樣品表面的掃描。

    11、真空系統

    采用FEI/飛利浦的離子泵、分子泵、機械泵真空系統無(wú)油污染抽速快。

    12、微觀(guān)實(shí)驗室

    Quattro環(huán)境掃描電鏡可安裝特殊的原位樣品臺,如熱臺,冷臺,和拉伸臺。從‐16°到140°溫度范圍內,對多種樣品保持其原始狀態(tài)下進(jìn)行動(dòng)態(tài)原位分析。

     

     

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