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    廣州標旗光電科技發(fā)展股份有限公司


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    單點(diǎn)反射測量支架

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    單點(diǎn)反射測量支架是一個(gè)探頭支架，用于厚度達150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量

    詳細介紹

    單點(diǎn)反射測量支架是一個(gè)探頭支架，用于厚度達150mm的光學(xué)層和其它基底的反射測量。

    這一探頭支架適于固定直徑達6.35mm的光學(xué)探頭和其它取樣設備，可以在一個(gè)不銹鋼支柱上上下滑行，調節高度可達63.5mm。

    反射臺是電鍍臺面，表面刻有同心圓以確定直徑，用于放置圓形樣品。

     

    規格

    尺寸（基座）: 直徑為152.4mm
    尺寸（樣品區）: 直徑為101.6mm*
    重量: 620 g
    高度: 垂直可調高度63.5mm

    *指帶有同心圓刻度的區域，用戶(hù)也可利用整個(gè)基座的區域。

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