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    行業(yè)產(chǎn)品

    • 行業(yè)產(chǎn)品

    柯岷國際貿易(上海)有限公司


    • 納米尺度3D光學(xué)干涉測量系統 VS1800

      詳細摘要: 納米尺度3D光學(xué)干涉測量系統VS1800應用光干涉現象,對微細的表面形貌進(jìn)行測量,可實(shí)現高性能薄膜、半導體、汽車(chē)零配件、顯示器等行業(yè)所要求的高精度測量。而且還能...

      產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時(shí)間:2023-09-28 在線(xiàn)留言

    • 日立離子研磨儀器 IM4000PLUS

      詳細摘要: IM4000PLUS是支持斷面研磨和平面研磨(Flat Milling®*1)的混合式離子研磨儀器。借此,可以用于適用于各種諸如對樣品內部結構觀(guān)察和各類(lèi)...

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    • 離子研磨儀 ArBlade 5000

      詳細摘要: ArBlade 5000是日立離子研磨儀的高性能機型。它實(shí)現了超高速截面研磨。高效率截面加工功能,使電鏡截面觀(guān)察時(shí)樣品加工更簡(jiǎn)單。

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    • TM系列專(zhuān)用能譜儀(EDS) Quantax75

      詳細摘要: 操作簡(jiǎn)單且直觀(guān)。*:和TM4000Plus搭配應用實(shí)例*:探測器內置型(制造商: 德國B(niǎo)ruker nano GmbH)

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    • TM系列專(zhuān)用能譜儀(EDS)AZtec系列

      詳細摘要: 圖標按操作流程順序排列,操作簡(jiǎn)便。通過(guò)對應譜圖可簡(jiǎn)單確認元素重疊狀況。通過(guò)TruMap功能分離出譜峰重疊元素并準確顯示(AZtecOne)。

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    • 臺式顯微鏡 TM4000II/TM4000PlusII

      詳細摘要: 臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。我們以“更高畫(huà)質(zhì)、更易于使用、更易于觀(guān)察"為理念,開(kāi)發(fā)出TM4000系列。在此基礎上,我們又推出功能更為多樣的TM4000...

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    • 掃描電子顯微鏡 FlexSEM 1000 II

      詳細摘要: “*的SEM更為緊湊"寬幅僅為45 cm的緊湊型的設計,仍具備4.0 nm的圖像分辨率。全新開(kāi)發(fā)的用戶(hù)界面和電子光學(xué)系統讓您深切體驗其高性能。

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    • 掃描電子顯微鏡 SU3800/SU3900

      詳細摘要: 集優(yōu)異性能、操作簡(jiǎn)便性、多樣化功能于一身。日立高新推出的掃描電鏡SU3800/SU3900兼具操作性和擴展性,結合眾多的自動(dòng)化功能,可高效發(fā)揮其高性能。SU39...

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    • 光-電聯(lián)用顯微鏡法(CLEM)系統 MirrorCLEM

      詳細摘要: MirrorCLEM是一個(gè)可簡(jiǎn)便觀(guān)察光學(xué)顯微鏡和掃描顯微鏡同一位置的CLEM*1用系統。*1:CLEM (Correlative light and elect...

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    • 熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU5000

      詳細摘要: 創(chuàng )新的“EM Wizard"界面更加直觀(guān),僅需要“點(diǎn)擊"即可得到的圖像。超前的電腦輔助技術(shù)將電鏡的操作與控制提升到一個(gè)新水平。

      產(chǎn)品型號:所在地:上海市更新時(shí)間:2023-09-28 在線(xiàn)留言

    • 超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU7000

      詳細摘要: SU7000不僅可以在低加速電壓下獲得高畫(huà)質(zhì)圖像,而且還可以同時(shí)接收多種信號。此外,它還具備大視野觀(guān)察、In-Situ觀(guān)察等FE-SEM的眾多性能。SU7000...

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    • 超高分辨率場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU9000

      詳細摘要: 專(zhuān)門(mén)為電子束敏感樣品和需300萬(wàn)倍穩定觀(guān)察的*半導體器件,高分辨成像所設計。

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