詳細摘要： 離子研磨儀 IM4000II
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柯岷國際貿易（上海）有限公司
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詳細摘要： 超高分辨場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡 SU8600系列
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詳細摘要： 超高分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡SU8700
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詳細摘要： 牛津儀器Ultim Extreme無(wú)窗超級能譜
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詳細摘要： 專(zhuān)用掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司(總經(jīng)理Max Haider先生)共同開(kāi)發(fā)的球差校正儀，顯著(zhù)提高了掃描透射電子顯微鏡的性能，...
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詳細摘要： 以創(chuàng )新的操作性，滿(mǎn)足廣泛領(lǐng)域的需求。新一代TEM"RuliTEM"誕生。"RuliTEM"120 kV透射電子顯微鏡系列，包含配備高襯度透鏡，實(shí)現大視野、高對比...
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詳細摘要： 200 kV相差校正TEM/STEM，平衡了空間分辨率和傾斜、分析性能。通過(guò)單極片實(shí)現0.078 nm的STEM空間分辨率和高樣品傾斜度、高立體角EDX。透射電...
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詳細摘要： 該導航系統可以將CAD數據的布線(xiàn)和大規模集成電路的設計圖形和FIB的觀(guān)察圖像相對應起來(lái)。當CAD系統中的坐標位置，樣品臺就會(huì )通過(guò)鏈接移動(dòng)到相應位置，就可以獲得相...
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詳細摘要： 微型采樣方法(已在日本和美國取得zhuanli)已在半導體器件分析領(lǐng)域成為一款工具，它正迅速向更小制樣方向發(fā)展。僅用一小時(shí)左右即可獲得一個(gè)微小樣品，以便于STE...
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詳細摘要： MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統：新型電子光學(xué)系統，可達到高水準的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質(zhì)...
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詳細摘要： 在設備及高性能納米材料的評價(jià)和分析領(lǐng)域，FIB-SEM已成為的工具。近來(lái)，目標觀(guān)察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯。日立高新公司，整合了高...
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詳細摘要： 通過(guò)自動(dòng)重復使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀(guān)察，采集一系列連續截面圖像，并重構特定微區的三維結構。采用的鏡筒布局，從*材料、*設備到生物組織——在寬廣的領(lǐng)域范圍...
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詳細摘要： “Ethos"采用日立高新的核心技術(shù)--的高亮度冷場(chǎng)發(fā)射電子槍及新研發(fā)的電磁復合透鏡，不但可以在低加速電壓下實(shí)現高分辨觀(guān)察，還可以在FIB加工時(shí)實(shí)現實(shí)時(shí)觀(guān)察。S...
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詳細摘要： AFM5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動(dòng)馬達臺的全自動(dòng)型原子力顯微鏡。設備在懸臂更換，激光對中，測試參數設置等環(huán)節上提供全自動(dòng)操作平臺。新開(kāi)發(fā)...
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詳細摘要： AFM5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進(jìn)行測量。AFM5300E還具有高低溫控制功能，可以檢測溫度...
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詳細摘要： AFM5100N除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀(guān)察的同時(shí)，大大簡(jiǎn)化了AFM懸臂操作。
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詳細摘要： AFM5000Ⅱ工作站采用全新的圖標用戶(hù)界面，標準配備參數自動(dòng)設置功能(RealTune® II)，即使是剛剛接觸SPM的初學(xué)者或者遇到全新的樣品時(shí)，也...
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