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組合熒光系統采用模塊化設計,既可實(shí)現穩態(tài)、瞬態(tài)測量,又能實(shí)現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇(光源、探測器、樣品架、變溫模塊等)...
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目:?絕*反射率測量?多層膜解析?光學(xué)常數分析(n:折射率,k:消光系數)
OP-AI系列氣浮隔振光學(xué)平臺? 固有頻率:<1.2~2Hz? 重復定位精度:±0.10mm? 臺面材料:SUS430高導磁不銹鋼? 臺面厚度:100...
半導體參數分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
網(wǎng)絡(luò )分析儀主要特性和功能:· 具有緊湊型頻率擴展器的單次掃描解決方案· 可以作為單個(gè)產(chǎn)品解決方案一次性購買(mǎi)· 對器件施加精確的調平功率,進(jìn)行功率掃描· 提供各種...
組合熒光系統采用模塊化設計,既可實(shí)現穩態(tài)、瞬態(tài)測量,又能實(shí)現UV-VIS-MIR的寬范圍測 量。組合熒光系統多種部件可供選擇(光源、探測器、樣品架、變溫模塊等)...
OPTM 系列顯微分光膜厚儀 測量項目:?絕*反射率測量?多層膜解析?光學(xué)常數分析(n:折射率,k:消光系數)
OP-AI系列氣浮隔振光學(xué)平臺? 固有頻率:<1.2~2Hz? 重復定位精度:±0.10mm? 臺面材料:SUS430高導磁不銹鋼? 臺面厚度:100...
半導體參數分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
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半導體參數分析儀型號有Keysight B1500A系列、Keithley 4200系列
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