詳細摘要： JEM-ARM300F實(shí)現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡...
產(chǎn)品型號：所在地：北京市更新時(shí)間：2024-02-20 在線(xiàn)留言北京培科創(chuàng )新技術(shù)有限公司
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北京培科創(chuàng )新技術(shù)有限公司
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詳細摘要： JEM-ARM300F實(shí)現了高掃描透射像(STEM-HAADF)分辨率，配備了JEOL自主研發(fā)的球差校正器，加速電壓可達300kV，是一款原子級分辨率電子顯微鏡...
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詳細摘要： 為了響應近來(lái)已成為主流的遠程操作的需求，NEOARM的電鏡室和操作室實(shí)行了分離式，主機使用了JEOL的新概念顏色—純白色和JEOL銀色，設計精煉時(shí)尚。
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詳細摘要： 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能*，操作方便，簡(jiǎn)明易懂，能在材料、醫學(xué)、生物學(xué)等多個(gè)研究領(lǐng)域提供優(yōu)異的解決方案。
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詳細摘要： Planet便攜式X射線(xiàn)粉末衍射儀的結構采用Seemann-Bohlin聚焦幾何方法，是世界上一款具有測角儀結構的便攜式X射線(xiàn)衍射儀。
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詳細摘要： Guinier-X射線(xiàn)超高精快速粉末衍射儀運用成像板技術(shù)，通過(guò)成熟的工藝技術(shù)，配合高壓系統DiamondAnvilCellHolder670.5，可實(shí)現在高達7...
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詳細摘要： 通過(guò)應用x射線(xiàn)研究的進(jìn)展，CT-alpha納米管為高分辨率測量提供了一種的解決方案，遠遠于現有的工業(yè)微型CT掃描儀。
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詳細摘要： “美國ISS——同時(shí)提供時(shí)域TCSPC和數字頻域FastFLIM™兩種熒光壽命成像技術(shù)解決方案！"市場(chǎng)上熒光壽命的測量方式可分為時(shí)域法和頻域法，兩者...
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詳細摘要： ISSHPCell 高壓倉系統包含壓力樣品倉，靜壓泵，控制系統以及數據采集模塊。整套系統可直接裝配于ISS公司的所有熒光光譜測試系統中，也可作為獨立附件適配于其...
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詳細摘要： AntonPaar拉曼光譜儀配有非常便利的樣品測試系統，在主機結構不變的情況下可實(shí)現不同樣品支架迅速切換。
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詳細摘要： ICSPI通過(guò)整合機電一體化系統，將傳統AFM集成到 一個(gè)CMOS芯片上，設計生產(chǎn)出世界單芯片動(dòng)態(tài) 原子力顯微鏡（Single-Chip Dynamic Ato...
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詳細摘要： 聲波(超聲波)已經(jīng)作為一種常見(jiàn)無(wú)損檢測手段，在工業(yè)或醫療領(lǐng)域的宏觀(guān)范圍內的測試得到廣泛應用。另一方面，我們每天使用的電子器件裝置越來(lái)越集成和復雜，尺寸越來(lái)越小。...
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詳細摘要： 新款120kV透射電子顯微鏡JEM-1400Flash配備了高靈敏度sCMOS相機、超大視野的蒙太奇系統以及與光學(xué)顯微鏡圖像的聯(lián)動(dòng)功能。
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詳細摘要： JED-2300TAnalysisStation是以“圖像觀(guān)察和分析"為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過(guò)程中，自動(dòng)采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參...
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詳細摘要： JSM-7200F的電子光學(xué)系統應用了日本電子旗艦機-JSM-7800FPrime采用的浸沒(méi)式肖特基電子槍技術(shù)，標配了TTLS系統（Through-The-Le...
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詳細摘要： 肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡能長(cháng)時(shí)間穩定地提供高電流下的微細探針，與View®2XP（Gatan公司制造）結合使用，能對樣品進(jìn)行自動(dòng)切割，自動(dòng)獲取圖像。通...
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詳細摘要： JSM-IT500是JEOLInTouchScope系列的新機型。從設定視野到生成報告，用于分析的軟件整合于一體，加快了作業(yè)速度！是一款無(wú)縫操作，使用更加方便的...
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詳細摘要： JEOL新一代場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的旗艦機型。它繼承了上一代廣獲好評的性能如的空間分辨率、高穩定性、多種功能等的同時(shí)，操作性能極大簡(jiǎn)單化。該設備不依賴(lài)操作者的技...
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詳細摘要： 鑒定產(chǎn)品環(huán)境耐受度利器
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詳細摘要： GPR-2GPR-3GPR-4GPL-2GPL-3GPL-4GPS-3GPS-4
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