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品牌：Bruker德國 型號：D8 Advance
新D8A的特點(diǎn)：
儀器介紹
布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線(xiàn)衍射儀，采用創(chuàng )造性的達芬奇設計，通過(guò)TWIN-TWIN光路設計，成功實(shí)現了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄膜反射率XRR分析的全自動(dòng)切換，而無(wú)需對光。通過(guò)革命性的TWIST TUBE技術(shù)，使用戶(hù)可以在1分鐘內完成從線(xiàn)光源應用（常規粉末的定性定量分析、薄膜的GID、XRR）到點(diǎn)光源應用（織構、應力、微區）的切換，讓煩人的光路互換、重新對光等問(wèn)題從此成為歷史！
高精度的測角儀可以保證在全譜范圍內的每一個(gè)衍射峰（注意不是一個(gè)衍射峰）的測量峰位和標準峰位的誤差不超過(guò)0.01度，布魯克AXS公司提供保證！的林克斯陣列探測器可以提高強度150倍，不僅答復提高設備的使用效率， 而且大幅提高了設備的探測靈敏度。
技術(shù)指標：
發(fā)生器功率：3-18KW
最小步進(jìn)角度：0.0001
重復性：0.0001
角度偏差：0.0001
Theta/theta立式測角儀
2Theta角度范圍：-110~168°
角度精度：0.0001度
Cr/Co/Cu靶，標準尺寸光管
探測器：林克斯陣列探測器、林克斯XE陣列探測器
儀器尺寸：1868x1300x1135mm
重量：770kg
功率：6.5kW
應用
物相定性分析 結晶度及非晶相含量分析
結構精修及解析 物相定量分析
點(diǎn)陣參數精確測量 無(wú)標樣定量分析
微觀(guān)應變分析 晶粒尺寸分析
原位分析 殘余應力
低角度介孔材料測量 織構及ODF分析
薄膜掠入射 薄膜反射率測量
小角散射
