蘇州利博斯工業(yè)設備有限公司
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微束涂層厚度和，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據
微束涂層厚度和，方便快速進(jìn)行質(zhì)量控制和驗證測試，在幾秒內即可獲得準確的數據。
基于X-光熒光的涂層厚度和材料分析是業(yè)內廣泛接受認可的分析方法，提供易于使用、快速和無(wú)損的分析，幾乎不需要樣本制備，能夠分析元素周期表上從13Al 到92U 的固體或液體樣品。
控制表面處理工藝的能力決定線(xiàn)路板的品級、可靠性和壽命。根據IPC 4556和IPC 4552測量非電鍍鎳（EN，NiP）電鍍厚度和成分結構。日立分析儀器產(chǎn)品幫助您在嚴控的范圍內持續運營(yíng)，確保高質(zhì)量并避免昂貴的返工。
零件必須在規格范圍內被電鍍，以達到預期的電力、機械及環(huán)境性能。 開(kāi)槽的X-Strata和MAXXI系列產(chǎn)品 ，可以測量小的試片或連續帶狀樣品，從而達到 引線(xiàn)框架（引線(xiàn)框架）、連接器插針、線(xiàn)材和端子的上、中和預鍍層厚度的控制。
半導體器件越來(lái)越小巧而復雜，需要分析設備測量其在小區域上的薄膜。日立分析儀器的分析儀設計為可為客戶(hù)所需應用提供高準確性分析，及重復性好的數據。
結合采購和本地制造的組件及涉及產(chǎn)品的多個(gè)測試點(diǎn)，實(shí)現從進(jìn)廠(chǎng)檢查到生產(chǎn)線(xiàn)流程控制，再到最終質(zhì)量控制。日立分析儀器的微焦斑XRF產(chǎn)品幫助您在全生產(chǎn)鏈分析組件、焊料和最終產(chǎn)品，確保每個(gè)階段的質(zhì)量。
對可再生能源的需求不斷增加，而光伏在收集太陽(yáng)能量方面扮演著(zhù)重要的角色。有效收集這種能量的能力一部分取決于薄膜太陽(yáng)能電池的質(zhì)量。微束XRF可幫助保證這些電池鍍層的準確度和連貫性，從而確保率。
與復雜的供應鏈合作，驗證和檢驗從供應商處收到的材料至關(guān)重要。使用日立分析儀器的XRF技術(shù)，根據IEC 62321方法檢驗進(jìn)貨是否符合RoHS和ELV等法規要求，確保高可靠性涂鍍層被應用于航空和軍事領(lǐng)域。
X-Strata 920 | MAXXI 6 | |
|---|---|---|
| ENIG | ★★☆ | ★★★ |
| ENEPIG | ★★☆ | ★★★ |
| 非電鍍鎳厚度和組成 (IPC 4556, IPC 4552) | 無(wú) | ★★★ |
| 非電鍍鎳厚度 | ★★☆ | ★★★ |
| 浸鍍銀 | ★★☆ | ★★★ |
| 浸鍍錫 | ★★☆ | ★★★ |
| HASL | ★★☆ | ★★★ |
| 無(wú)鉛焊料（如 SAC) | ★☆☆ | ★★★ |
| CIGS | 無(wú) | ★★★ |
| CdTe | 無(wú) | ★★★ |
| 納米級薄膜分析 | 無(wú) | ★★★ |
| 多層分析 | ★★☆ | ★★★ |
| IEC 62321 RoHS 篩選 | 無(wú) | ★★★ |
檢驗所用涂層的厚度和化學(xué)性質(zhì)，以確保產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的功能性和使用壽命。輕松處理小緊固件或大型組件。
通過(guò)確保磨蝕環(huán)境中關(guān)鍵部件的涂層厚度和均勻度，預防產(chǎn)品故障。復雜的形狀、薄或厚的涂層和成品都可被測量。
當目標是實(shí)現無(wú)瑕表面時(shí)，整個(gè)生產(chǎn)過(guò)程中的質(zhì)量控制至關(guān)重要。通過(guò)日立分析儀器的多種測試設備，您可以可靠地檢測基材，中間層和頂層厚度。
在條件下進(jìn)行的零件的表面處理必須被控制在嚴格公差范圍內。確保符合涂鍍層規格、避免產(chǎn)品召回和潛在的災難性故障。
X-Strata 920 | MAXXI 6 | |
|---|---|---|
| Zn / Fe, Fe 合金 Cr / Fe, Fe 合金 Ni / Fe, Fe 合金 | ★★☆ | ★★★ |
| ZnNi / Fe, Fe 合金 ZnSn / Fe, Fe 合金 | ★★☆ | ★★★ |
| NiP / Fe NiP / Cu NiP / Al | ★★☆ (僅厚度) | ★★★ (厚度和成分) |
| Ag / Cu Sn / Cu | ★★☆ | ★★★ |
| Cr / Ni / Cu / ABS | ★★☆ | ★★★ |
| Au / Pd / Ni /CuZn | ★★☆ | ★★★ |
| WC / Fe, Fe 合金 TiN / Fe, Fe 合金 | ★★☆ | ★★★ |
| 納米級薄膜分析 | 無(wú) | ★★★ |
| 多層分析 | ★★☆ | ★★★ |
| IEC 62321 RoHS 篩選 | 無(wú) | ★★★ |
憑借的分辨率和高效率 SDD，MAXXI 6 是測量涂層和痕量元素成分的理想儀器。MAXXI 6 具有多達6個(gè)主濾波器和8個(gè)準直器，能夠處理挑戰性的應用。巨大的開(kāi)槽室設計是小、大或長(cháng)樣本的理想選擇。優(yōu)化的硬件配置可以直接分析化學(xué)鍍鎳應用中的%P。
X-Strata920 可被配置為三個(gè)不同的樣品臺配置，以應對各種不同的樣本形狀和尺寸。標準臺可以快速定位小或薄部件。加深臺基座有一個(gè)可移動(dòng)托盤(pán)，可快速被配置，以搭配小或大零件（6英寸）。電動(dòng)X(jué)-Y臺可自動(dòng)分析多個(gè)樣品或一個(gè)樣品的多個(gè)位置。
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