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SR系列膜厚傳感器提供快速、穩定的膜厚在線(xiàn)量測解決方案。
半導體復雜膜層在線(xiàn)量測解決方案。
ME-L 是一款科研級全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術(shù)多年的研發(fā)投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng )新技術(shù),包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制...
SR-Mapping反射膜厚儀是超快速薄膜表征儀器,通過(guò)分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射光譜,從而測量薄膜的厚度及光學(xué)常數。
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SR-Mapping反射膜厚儀是超快速薄膜表征儀器,通過(guò)分析薄膜表面反射光和薄膜與基底界面反射光相干涉形成的反射光譜,從而測量薄膜的厚度及光學(xué)常數。
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半導體復雜膜層在線(xiàn)量測解決方案。
ME-L 是一款科研級全自動(dòng)高精度穆勒矩陣型橢偏儀,凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術(shù)多年的研發(fā)投入,其采用行業(yè)前沿的創(chuàng )新技術(shù),包括消色差補償器、雙旋轉補償器同步控制...
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