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    拉曼-原子力顯微鏡聯(lián)用系統

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    共焦顯微拉曼光譜儀：主要特點(diǎn)：1、靈敏度遠高于其它同類(lèi)拉曼譜儀，模塊化設計，波長(cháng)可任意選擇，配置靈活，升級容易

    詳細介紹


    共焦顯微拉曼光譜儀：
    主要特點(diǎn)：
    1、靈敏度遠高于其它同類(lèi)拉曼譜儀，模塊化設計，波長(cháng)可任意選擇，配置靈活，    升級容易。
    2、所有傳動(dòng)部件均采用光柵尺閉環(huán)控制，儀器精度和重復性比其它同類(lèi)光譜儀    提高了一個(gè)數量級。
    3、可一次連續掃描大范圍的拉曼光譜（），無(wú)需接譜，無(wú)需使用低分辨率    光柵。
    4、受保護的的顯微共焦系統，可連續調節共焦深度，并大大提高了儀    器的光通量和穩定性。
    5、受保護的拉曼或熒光信號一次直接成像，迅速獲得材料的空間分布。
     
    原子力顯微鏡：
    主要特點(diǎn)：
           Bruker Dimension® Icon™  原子力顯微鏡為工業(yè)界和科研界納米領(lǐng)域的研究者帶來(lái)了全新的 AFM 應用體驗，其測試功能強大，操作簡(jiǎn)便易行。仍然以世界上應用泛的 AFM 大樣品平臺為基礎，齊集  Dimension 系統數十年的技術(shù)經(jīng)驗，廣大客戶(hù)反饋，結合工業(yè)領(lǐng)域的設備需求，進(jìn)行全面革新。全新的系統設計，實(shí)現了的低漂移和低噪音水平，現在用戶(hù)只需要幾分鐘就可獲得真實(shí)準確的掃描圖像。
     
           Dimension®  Icon™優(yōu)秀的圖像分辨率，與 Bruker 的電子掃描算法相結合，顯著(zhù)提升了測量速度與質(zhì)量。Dimension®系列大樣品臺原子力顯微鏡始終處于行業(yè)地位，的 Dimension®  Icon™是針尖掃描技術(shù)的又一次革新，配置溫度補償位置傳感器，實(shí)現了 Z 軸亞埃級和 XY 軸埃級的低噪音水平，將其應用在90 微米掃描范圍的大樣品臺體系上，效果甚至優(yōu)于高分辨小樣品臺 AFM 的開(kāi)環(huán)噪音水平。全新設計的 XYZ 閉環(huán)掃描頭，即使在較高的掃描速度工作時(shí)，也不會(huì )損壞圖像質(zhì)量，實(shí)現了更大的數據采集輸出量。
     
     
    拉曼-原子力顯微鏡聯(lián)用系統：
           您可以將inVia拉曼的能力與掃描探針顯微鏡（SPM和AFM）聯(lián)用，在納米尺度上研究材料的組成、結構和特性。

    聯(lián)用系統優(yōu)勢：
           原位測量。無(wú)需在不同儀器之間移動(dòng)樣品，節約時(shí)間，保證正確的分析區域。
    inVia和SPM/AFM可同時(shí)作為獨立系統使用，而不會(huì )影響兩者的任何性能。
    得到豐富的樣品信息。使用AFM記錄樣品的形貌及相關(guān)物理特性。增加拉曼分析樣品化學(xué)信息的能力，以識別材料和非金屬化合物。
    可實(shí)現針尖增強拉曼測量（TERS），獲得納米尺度的化學(xué)信息。

    選擇系統：
           雷尼紹特殊設計的靈活的耦合臂可以用于將inVia與SPM或AFM光學(xué)整合。inVia具有極大的靈活性，能夠將其直接耦合到如下供應商的各種AFM和SPM上：


     
    · Bruker Nano Surfaces    
    · Nanonics
    · NT-MDT
    · JPK
    · Par

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