詳細摘要： XAU-4CS光譜分析儀性能優(yōu)勢：1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm（加長(cháng)測量時(shí)間可小至0.01mm）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，...
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深圳市恩陽(yáng)電子有限公司
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詳細摘要： XAU-4CS光譜分析儀性能優(yōu)勢：1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm（加長(cháng)測量時(shí)間可小至0.01mm）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品，...
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詳細摘要： XAU-4C(B)光譜分析儀性能優(yōu)勢：1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm（加長(cháng)測量時(shí)間可小至0.01mm）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣...
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詳細摘要： 測量元素范圍：從鈉（Na）至鈾（U）測量對象狀態(tài)：粉末、固體、液體同時(shí)分析元素：30種元素同時(shí)分析元素含量分析范圍：1ppm-99.99%能量分辨率為：1405...
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詳細摘要： 模塊化設計：模塊化設計
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詳細摘要： 微聚焦加強型X射線(xiàn)裝置：可測試各類(lèi)極微小的樣品
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詳細摘要： 搭載微聚焦加強型X射線(xiàn)發(fā)生器和的光路轉換聚焦系統
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詳細摘要： 1）搭載微聚焦加強型X射線(xiàn)發(fā)生器和的光路轉換聚焦系統
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詳細摘要： 1）搭載微聚焦加強型X射線(xiàn)發(fā)生器和的光路轉換聚焦系統
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詳細摘要： 更廣的分析范圍：用于地礦、合金、及貴金屬等物質(zhì)中Na(11)-U(92)元素的成分分析
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詳細摘要： XTD-200全自動(dòng)鍍層測厚儀儀器簡(jiǎn)介：XTD-200是一款專(zhuān)用于檢測各種異形件，特別適用于五金類(lèi)模具、衛浴產(chǎn)品、線(xiàn)路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度...
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詳細摘要： 分析方法:能量色散X熒光分析方法測量元素范圍:原子序數為12～92【鎂（Mg）到鈾（U）】之間的元素均可測量
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詳細摘要： 元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）分析檢出限可達ppm級分析含量一般為ppm到99
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詳細摘要： 元素分析范圍從硫（S）到鈾（U）分析檢出限可達1ppm分析含量一般為1ppm到99
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詳細摘要： XTU-BLX熒光光譜儀型號：XTU-BL測量面積：最小0.002mm鍍層分析：23層鍍層24種元素儀器特點(diǎn)：可手動(dòng)變焦儀器優(yōu)勢：同元素不同層分析服務(wù)宗旨：專(zhuān)注...
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詳細摘要： XAVU鍍層測厚儀XAU系列能量色散X熒光光譜分析儀，是一款配備SDD探測器的高效率鍍層測厚儀！此款產(chǎn)品可適用于固體和液體的含量檢測，用于液體中高含量金屬成分的...
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詳細摘要： XTD(B)鍍層測厚儀XTD系列測厚儀，專(zhuān)業(yè)表面處理檢測解決方案：XTD系列測厚儀，專(zhuān)用于檢測各種異形件，特別是五金類(lèi)模具、衛浴產(chǎn)品、線(xiàn)路板以及高精密電子元器件...
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