FEl Talos™ F200X掃描/透射電子顯微鏡(S/TEM) 可提供*快、*準確且量化的多維度納米材料表征。
FEl Talos F200X 的創(chuàng )新功能可提高通量、精度與易用性,非常適合學(xué)術(shù)界、**和工業(yè)研究環(huán)境中的高級研究與分析。
產(chǎn)品特點(diǎn):
●更好的圖像數據:
配備同步多重信號檢測的高通量STEM 成像可實(shí)現更好的對比度,
●從而可提供高質(zhì)量圖像
更短的化學(xué)成分數據生成時(shí)間:
快速、精確且量化的 EDS 分析 可揭示納米級細節
●為擴大應用提供空間:
添加特定于應用的原位樣品桿以開(kāi)展動(dòng)態(tài)實(shí)驗
●更高的穩定性:
采用儀器罩和遠程操作來(lái)提高環(huán)境***