國產(chǎn)掃描電子顯微鏡

CEM3000系列國產(chǎn)掃描電子顯微鏡用于對樣品進(jìn)行微觀(guān)尺度形貌觀(guān)測和分析。標配有高性能二次電子探頭和多象限背散射探頭、并可選配能譜儀、低真空系統，能滿(mǎn)足用戶(hù)對多類(lèi)型樣品的觀(guān)測需求，實(shí)現微觀(guān)的形貌和元素分析等。

不同于立式電鏡，CEM3000系列國產(chǎn)掃描電子顯微鏡無(wú)需占據大量空間來(lái)容納整個(gè)電鏡系統，這使其甚至能夠出現在用戶(hù)日常工作的桌面上，在用戶(hù)手邊實(shí)時(shí)呈現所得結果。此外，該系列臺式電鏡也可以進(jìn)入手套箱、車(chē)廂還是潛水器等狹小空間內大顯身手。即便在一些常規電鏡難以耐受的工作環(huán)境中，該系列臺式電鏡也能憑借抗振防磁技術(shù)，展現出色的性能。

核心優(yōu)勢

1、緊湊靈活，突破空間限制

（1）臺式設計，體積小巧，輕松擺放在桌面或狹小空間（如手套箱、移動(dòng)實(shí)驗室），節省實(shí)驗室空間。

（2）支持快速移機，一臺設備滿(mǎn)足多場(chǎng)景需求，助力科研效率提升。

2、高性能，納米級分辨率

（1）空間分辨率優(yōu)于4nm（SE），支持高達200,000倍放大，精準捕捉納米材料、微流控芯片等樣品的微觀(guān)形貌。

（2）高襯度成像系統，快速掃描也能清晰呈現微弱信號，滿(mǎn)足材料科學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域的需求。

3、抗振防磁，穩定無(wú)懼挑戰

（1）特殊隔振設計（CEM3000B搭載復合抗振系統），消除環(huán)境振動(dòng)與電磁干擾，保障高倍成像質(zhì)量。

（2）適用于工業(yè)車(chē)間、車(chē)載實(shí)驗室等復雜環(huán)境，穩定可靠。

4、高效便捷，一鍵智能操作

（1）快速抽放氣技術(shù)：低真空模式僅需40秒（CEM3000B），高真空模式最快1.5分鐘，大幅縮短等待時(shí)間。

（2）自動(dòng)對焦、消像散、圖像增強功能，一鍵生成高質(zhì)量圖片，降低操作門(mén)檻。

5、靈活拓展，滿(mǎn)足多樣需求

（1）可選配低真空系統（5~100Pa），兼容導電/非導電樣品觀(guān)測。

（2）CEM3000系列桌面式掃描電子顯微鏡支持二次電子、背散射電子探頭及能譜儀，搭配顆粒統計、孔隙率測量等定制功能，滿(mǎn)足多領(lǐng)域分析需求。

應用場(chǎng)景

材料科學(xué)：納米材料（如60nm銀線(xiàn)）、高熵合金粉末、氧化鋅等微觀(guān)結構分析。

新能源：太陽(yáng)能電池板缺陷檢測、涂層性能評估。

生物醫療：微流控芯片表面形貌觀(guān)測、藥物載體研究。

工業(yè)質(zhì)檢：錫球顆粒焊接質(zhì)量、精密器件表面粗糙度檢測。

機型選擇

CEM3000A（大樣品倉型）：70mm×70mm樣品倉，兼容大尺寸或多樣品批量分析。

CEM3000B（抗振型）：專(zhuān)為振動(dòng)環(huán)境設計，抽氣更快（低真空僅40秒），成像更穩定。

部分技術(shù)指標

如有疑問(wèn)或需要更多詳細信息，請隨時(shí)聯(lián)系中圖儀器咨詢(xún)。