一、產(chǎn)品優(yōu)勢及特征
（一）產(chǎn)品優(yōu)勢
1. 鍍層測厚儀運用X射線(xiàn)熒光光譜分析方法進(jìn)行鍍層檢測，多鍍層檢測可達5層，精度及穩定性可控制在+/-5%內。
2. 儀器尺寸：618*525*490mm，樣品移動(dòng)距離：160*150*90mm。
3. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測量功能。
- 可檢測固體、粉末狀態(tài)材料。
- 運行及維護成本低、無(wú)易損易耗品，對使用環(huán)境相對要求低。
- 可進(jìn)行未知標樣掃描、無(wú)標樣定性，半定量分析。
- 操作簡(jiǎn)單、易學(xué)易懂、精準無(wú)損、高品質(zhì)、高性能、高穩定性，快速出檢測結果。
- 可針對客戶(hù)個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件。
- 軟件*升級。
- 無(wú)損檢測，一次性購買(mǎi)標樣可長(cháng)期使用。
- 使用安心無(wú)憂(yōu)，售后服務(wù)響應時(shí)間24H以?xún)?，提?保姆式服務(wù)。
- 可以遠程操作，解決客戶(hù)使用中的后顧之憂(yōu)。
- 可進(jìn)行RoHS檢測（選配功能），應對新版中華人民共和國RoHS檢測要求，歐盟及北美RoHS檢測等要求標準，精確的測試RoHS指令中的鉛、汞、鎘、鉻、鋇、銻、硒、砷等重金屬，測試無(wú)鹵素指令中的溴、氯等有害元素。亦可對成分進(jìn)行分析。
（二）產(chǎn)品特征
- 高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）
- 計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數字轉換器）。
- Multi Ray. 運用基本參數（FP）軟件，通過(guò)簡(jiǎn)單的三步進(jìn)行無(wú)標樣標定，使用基礎參數計算方法，對樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析，可以增加RoHS檢測功能。
- MTFFP (多層薄膜基本參數法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線(xiàn)性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測量
相對（比）模式 無(wú)焦點(diǎn)測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時(shí)測量
單鍍層應用 [如：Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如：Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
5. Smart-Ray. 快速、簡(jiǎn)單的定性分析的軟件模塊?？赏瑫r(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較、減法運算和配給。
Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件?？梢淮涡苑治?5種元素。小二乘法計算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計算方法進(jìn)行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達+ /-0.02%，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達+ /-0.05kt
Smart-Ray。含全元素、內部元素、矩陣校正模塊。
- Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統
- 完整的統計函數均值、 標準差、 低/高讀數，趨勢線(xiàn)，Cp 和 Cpk 因素等
- 自動(dòng)移動(dòng)平臺，用戶(hù)使用預先設定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測量。大測量點(diǎn)數量 = 每9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有多 25 個(gè)不同應用程序。特殊工具如"線(xiàn)掃描"和"格柵"。每個(gè)階段文件包含統計軟件包。包括自動(dòng)對焦功能、方便加載函數、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測量功能。
二、產(chǎn)品配置及技術(shù)指標說(shuō)明
u 測量原理：能量色散X射線(xiàn)分析 | u 樣品類(lèi)型：固體/粉末 |
u X射線(xiàn)光管：50KV，1mA | u過(guò)濾器：5過(guò)濾器自動(dòng)轉換 |
u檢測系統：SDD探測器（或Si-Pin） | u能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV） |
u檢測元素范圍：Al (13) ~ U(92) | u準直器孔徑：0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可選) |
u應用程序語(yǔ)言：韓／英／中 | u分析方法：FP/校準曲線(xiàn)，吸收，熒光 |
u儀器尺寸：618*525*490mm | u樣品移動(dòng)距離：160*150*90mm |
1. X射線(xiàn)管：高穩定性X光光管，微焦點(diǎn)X射線(xiàn)管、Mo (鉬) 靶
鈹窗口， 陽(yáng)極焦斑尺寸75um，油絕緣，氣冷式，輻射安全電子管屏蔽。
50kV，1mA。高壓和電流設定為應用程序提供優(yōu)異性能。
- 探測器：SDD 探測器（可選Si-Pin）
能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）
- 濾光片/可選
初級濾光片：Al濾光片，自動(dòng)切換
7個(gè)準直器：客戶(hù)可選準直器尺寸或定制特殊尺寸準直器。
(0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm )
- 平臺：軟件程序控制步進(jìn)式電機驅動(dòng)X(jué)-Y軸移動(dòng)大樣品平臺。
激光定位、簡(jiǎn)易荷載大負載量為5公斤
軟件控制程序進(jìn)行持續性自動(dòng)測量 - 樣品定位：顯示屏上顯示樣品鎖定、簡(jiǎn)易荷載、激光定位及拍照功能
6. 分析譜線(xiàn)：
- 2048通道逐次近似計算法ADC（模擬數字轉換）
- 基點(diǎn)改正（基線(xiàn)本底校正）
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數自動(dòng)顯示
7．視頻系統：高分辨率CCD攝像頭、彩色視頻系統
- 觀(guān)察范圍：3mm x 3mm
- 放大倍數：40X
- 照明方法：上照式
- 軟件控制取得高真圖像
8. 計算機、打印機（贈送）
- 含計算機、顯示器、打印機、鍵盤(pán)、鼠標
- 含Win 7/Win 10系統。
- Multi-Ray鍍層分析軟件
注：設備需要配備穩壓器，需另計。
五、軟件說(shuō)明
1．鍍層測厚儀儀器工作原理說(shuō)明
