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離子遷移測試系統

詳細摘要：離子遷移測試系統離子遷移測試系統可用于助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹(shù)脂、導電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料、BGA、CSP等精細節距IC封裝件、有機...
產(chǎn)品型號：所在地：岳陽(yáng)市更新時(shí)間：2024-11-08 在線(xiàn)留言
MRT微電阻測試系統

詳細摘要： MRT微電阻測試系統MRT微電阻測試系統主要用于自動(dòng)監測電子產(chǎn)品或元件在環(huán)境可靠性測試中電子回路的導通電阻變化
產(chǎn)品型號：所在地：岳陽(yáng)市更新時(shí)間：2024-11-08 在線(xiàn)留言
HCT耐電流測試系統

詳細摘要： HCT耐電流測試系統（HighCurrentTestSystem）HCT耐電流測試系統（HighCurrentTestSystem）又稱(chēng)耐電流測試儀、耐電流測試...
產(chǎn)品型號：所在地：岳陽(yáng)市更新時(shí)間：2024-11-08 在線(xiàn)留言
IST互連應力測試系統

詳細摘要： IST（interconnectiontestsystem）互連應力測試系統IST（interconnectiontestsystem）互連應力測試系統，又稱(chēng)互...
產(chǎn)品型號：所在地：岳陽(yáng)市更新時(shí)間：2024-11-08 在線(xiàn)留言

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