湖南冬達儀器股份有限公司
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更新時(shí)間：2024-11-08 09:35:10瀏覽次數：63次
聯(lián)系我時(shí)，請告知來(lái)自 紡織服裝機械網(wǎng)離子遷移測試系統離子遷移測試系統可用于助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹(shù)脂、導電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料、BGA、CSP等精細節距IC封裝件、有機半導體相關(guān)（有機EL)、電容、連接器等其他電子元器件及材料、各種絕緣材料的吸濕性特性評估
離子遷移測試系統
離子遷移測試系統可用于助焊劑、印刷電路板、光刻膠、釬料、樹(shù)脂、導電膠等有關(guān)印刷電路板、高密度封裝的材料、BGA、CSP等精細節距IC封裝件、有機半導體相關(guān)（有機EL)、電容、連接器等其他電子元器件及材料、各種絕緣材料的吸濕性特性評估。
離子遷移測試系統自主開(kāi)發(fā)連續通電掃描繼電器方式，配備國際標準的測量?jì)x表，與環(huán)境試驗箱聯(lián)動(dòng)，操作更簡(jiǎn)便更安全。標配 100V 應力電壓（應力電壓 / 測量電壓），更有 1000V、2500V 高電壓規格可選。高速準確捕捉離子遷移現象發(fā)生的細微變化，離子遷移實(shí)時(shí)監測?！窫-Graph」可實(shí)時(shí)編輯預覽監測實(shí)時(shí)獲得的數據。選配可使連接試樣及線(xiàn)纜更方便，試驗效率更高
離子遷移測試系統廣泛用于印制電路板、阻焊油墨、絕緣漆、膠粘劑，封裝樹(shù)脂微間距圖形、IC封裝材料等絕緣材料性能退化特性評估，以及焊錫膏、焊錫絲、助焊劑、清洗劑等引起的材料絕緣性能退化評估。
該系統能夠充分滿(mǎn)足IEC、EIA、IPC、GB、GJB、QJ等相關(guān)測試規范，通過(guò)將評估試樣置于高壓、高溫高濕環(huán)境下，通過(guò)實(shí)時(shí)監測材料絕緣阻抗的變化，記錄相關(guān)數據和曲線(xiàn)，幫助使用人員對材料特性進(jìn)行量化分析。
主要應用行業(yè)：通訊設備、船舶汽車(chē)、計算機、航空**、半導體，印制電路板等。
MIR絕緣電阻測試系統主要特點(diǎn)如下。
●可靈活選擇的測試通道數，系統可提供32*n（n=1，2...）不同數量通道。以應對不同批量試樣的測試。
●系統模塊化結構
●高精度絕緣電阻測試.
●系統集成試驗箱溫濕度測試（選配）
●Slot測試參數獨立設置
●測試電纜檢測
●絕緣電阻和漏電流校正
●偏置電壓極性可變換（選配）
●靈活的遷移條件設置
●漏電驗證測試
●測試過(guò)程多畫(huà)面顯示，易懂易操作。
●高速漏電流監測
●樣品失效保護
●測試中可以修改測試時(shí)間
●測試中途暫停,中斷/繼續
●測試數據自動(dòng)保存
●獨立的數據分析和報告軟件
●測試報告一鍵輸出。
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