產(chǎn)品展示

MAXXI 6臺式XRF鍍層測厚儀 - MAXXI 6

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深圳市方源儀器有限公司
2022-04-26 12:47:39
深圳市
435

【簡(jiǎn)單介紹】

深圳市方源儀器有限公司英國牛津儀器中國總代理商!臺式XRF鍍層測厚儀-MAXXI6提供高性能、快速可靠無(wú)損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和高品質(zhì)

【詳細說(shuō)明】

深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器中國總代理商!臺式XRF鍍層測厚儀 - MAXXI 6提供高性能、快速可靠無(wú)損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和高品質(zhì)。

概述：
深圳市方源儀器有限公司—英國牛津儀器中國總代理商!臺式XRF鍍層測厚儀 - MAXXI 6提供高性能、快速可靠無(wú)損的鍍層厚度測量及材料分析，確保產(chǎn)品質(zhì)量的一致性和高品質(zhì)。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

高分辨率的硅漂移器（SDD）
開(kāi)槽式超大樣品艙設計
8個(gè)準直器
USB接口與計算機連接

我們的鍍層測厚儀是基于X射線(xiàn)熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認可并且得到廣泛應用，可以在無(wú)需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無(wú)損的分析。

鍍層測厚儀 MAXXI 6 配備多準直器系統及超大樣品艙，針對較薄而復雜的樣品，具有的解決方案。MAXXI 6 可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的13Al到92U。

產(chǎn)品亮點(diǎn)：
采用微聚焦X射線(xiàn)光管，實(shí)現高精度、高可靠性、測量時(shí)間短、購置成本低
采用高分辨率的硅漂移探測器（SDD），提供能量級別的效率，極低的檢出限（LOD）
多準直器可優(yōu)化不同尺寸樣品熒光信號產(chǎn)額，提高測量效率
開(kāi)槽式超大樣品艙設計，十分適合電路板或其他超大平板樣品
“USB接口”只需通過(guò)USB與計算機連接，無(wú)需額外的硬件或軟件
德國制造，符合工程標準，堅固耐用的設計可實(shí)現長(cháng)期可靠性
通過(guò)PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）認證，滿(mǎn)足輻射安全標準

性能及符合性
最多同時(shí)測定5層，15種元素及共存元素的校正
同時(shí)實(shí)現多于25種元素的定量分析
檢測方法通過(guò)ISO 3497, ASTM B568, DIN 50987和IEC 62321等認證

開(kāi)槽式大樣品臺
可編程的XY樣品臺
樣品腔體積：500 × 450 × 170 mm
創(chuàng )新的防撞設計

可編程的樣品臺
預定位激光技術(shù)
的樣品臺行程范圍及速度
自動(dòng)測量

軟件及校準
基于WindowsTM 7操作系統，直觀(guān)的軟件MaxxControl
選擇經(jīng)驗校準以實(shí)現準確性或選擇FP無(wú)標樣模式以輕松實(shí)現校準
成分分析：可自由選擇元素；厚度測量：可自定義鍍層結構
對RoHS和貴金屬進(jìn)行工廠(chǎng)預裝校準（可選）

中國代理商：深圳市方源儀器有限公司
地址：深圳市南山區登良路62號南園綜合樓5樓             地址：上海市閔行區申濱路1051弄140號1101室
電話(huà)：          電話(huà)：
：      : fyyq@         ：         : fyyq@

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