產(chǎn)品展示
CMI233Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測厚儀
【簡(jiǎn)單介紹】
【詳細說(shuō)明】
Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測厚儀,測試采用電渦流原理的測厚儀,原則上對所有導電體上的非導電體覆層均可測量,如航天航空器表面、車(chē)輛、家電、鋁合金門(mén)窗及其它鋁制品表面的漆,塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。覆層材料有一定的導電性,通過(guò)校準同樣也可測量,但要求兩者的導電率之比至少相差3-5倍(如銅上鍍鉻)。雖然鋼鐵基體亦為導電體,但這類(lèi)任務(wù)還是采用磁性原理測量較為合適。
Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測厚儀參數規格:
型號:CMI233+ECP(探頭)
品牌:英國牛津儀器Oxford
測量范圍:0-1.52mm(0-60mils)
測量精度:依照參考標準片±0.1um
單位:um/mils
尺寸:14.9X7.94X3.02cm
重量:260g(含電池)
電源:9V電池
注意:該儀器還可進(jìn)行涂層側后,可選購探頭SMP-2
Oxford 鍍層膜厚儀CMI233測厚儀檢測原理:
高頻交流信號在測頭線(xiàn)圈中產(chǎn)生電磁場(chǎng),測頭靠近導體時(shí),就在其中形成渦流。測頭離導電基體愈近,則渦流愈大,反射阻抗也愈大。這個(gè)反饋作用量表征了測頭與導電基體之間距離的大小,也就是導電基體上非導電覆層厚度的大小。由于這類(lèi)測頭專(zhuān)門(mén)測量非鐵磁金屬基材上的覆層厚度,所以通常稱(chēng)之為非磁性測頭。非磁性測頭采用高頻材料做線(xiàn)圈鐵芯,例如鉑鎳合金或其它新材料。與磁感應原理比較,主要區別是測頭不同,信號的頻率不同,信號的大小、標度關(guān)系不同。與磁感應測厚儀一樣,渦流測厚儀也達到了分辨率0.1um,允許誤差1%,量程10mm的高水平。
產(chǎn)品供貨展示圖:
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