x射線(xiàn)膜厚儀

x射線(xiàn)膜厚儀* 技術(shù)指標型號：元素分析范圍從鋁（AL)到鈾（U）。
* 一次可同時(shí)分析zui多24個(gè)元素或五層以上鍍層。
* 元素分析檢出限可達2ppm，分析含量一般為2ppm到99.9％。鍍層厚度zui薄可達0.005um，一般在20um內（不同材料有所不同）。
* 小孔準直器（zui小直徑0.1mm），測試光斑在0.2mm以?xún)取?br />* 高精度移動(dòng)平臺（定位精度小于0.005mm）。
* 任意多個(gè)可選擇的分析和識別模型。
* 尺寸：450mm*450mm
* 重量：32 kg
* 標準配置開(kāi)放式樣品腔。
* 精密二維移動(dòng)樣品平臺，探測器和X光管上下可動(dòng)，實(shí)現三維移動(dòng)。
* 雙激光定位裝置。
* 鉛玻璃屏蔽罩。
* 半導體探測器。
* 信號檢測電子電路。
* 高低壓電源。
* X光管。
* 高度傳感器保護傳感器計算機及噴墨打印機。
x射線(xiàn)膜厚儀利用X射線(xiàn)穿透被測材料時(shí)，X射線(xiàn)的強度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性，從而測定材料的厚度，是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計量?jì)x器，這種測量方法可以實(shí)現連續的實(shí)時(shí)在線(xiàn)測量。它以PLC和工業(yè)計算機為核心，采集計算數據并輸出目標偏差值給軋機厚度控制系統，達到要求的軋制厚度。
無(wú)論是汽車(chē)部件、衛浴器具，還是半導體支架、接插端子、金銀首飾，美國bowman公司都一一有理想的儀器去進(jìn)行測量。美國bowman提供的都是高效率、低成本的測量?jì)x器，它廣泛應用于各類(lèi)電鍍工件的鍍層測厚及貴重首飾的成色分析，簡(jiǎn)單易用，維護方便，是節省生產(chǎn)成本的好幫手。