鍍層膜厚儀_金東霖對被測樣品發(fā)射一束一次X射線(xiàn)，樣品的原子吸收X射線(xiàn)的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線(xiàn)。每個(gè)化學(xué)元素會(huì )釋放出特定能量的X射線(xiàn)。通過(guò)測量這些釋放出的二次X射線(xiàn)的特征能量和強度，X射線(xiàn)分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
傳統的楔切法，光截法，電解法，都是有損檢測。而X射線(xiàn)它采用非接觸式穿透測量法，既不會(huì )傷害材料，更不會(huì )受板型、現場(chǎng)條件、潔凈度等因素的影響。并且測量穩定、準確還可以對大部分磁性或非磁性材料進(jìn)行測量。
鍍層膜厚儀_金東霖應用范圍
* 測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成,測量范圍從17(Cl)到92(U);
* 5 層 (4 鍍層 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
* 組成成分分析時(shí)可同時(shí)測定24種元素;
* 鍍液中元素含量分析;
* 元素光譜定性分析;
* 基材分析;
生產(chǎn)商及儀器型號：
制造商：美國B(niǎo)OWMAN公司
原產(chǎn)地：美國
型 號：BA 100
