x-ray膜厚儀_金東霖對被測樣品發(fā)射一束一次X射線(xiàn)，樣品的原子吸收X射線(xiàn)的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線(xiàn)。每個(gè)化學(xué)元素會(huì )釋放出特定能量的X射線(xiàn)。通過(guò)測量這些釋放出的二次X射線(xiàn)的特征能量和強度，X射線(xiàn)分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
傳統的楔切法，光截法，電解法，都是有損檢測。而X射線(xiàn)它采用非接觸式穿透測量法，既不會(huì )傷害材料，更不會(huì )受板型、現場(chǎng)條件、潔凈度等因素的影響。并且測量穩定、準確還可以對大部分磁性或非磁性材料進(jìn)行測量。
x-ray膜厚儀_金東霖整體描述：
美國B(niǎo)OWMAN X-RAY 設備遵循ASTM B568， DIN 50 987和ISO 3497 等國家和國際標準，主要基於鍍層厚度測量和材料分析的X-射線(xiàn)系統。採用全新數學(xué)計算方法,採用的FP (Fundamental Parameter）強大的電腦功能 來(lái)進(jìn)行鍍層厚度的計算，在加強的軟體功能之下，簡(jiǎn)化了測量比較複雜鍍層的程式。
（1）、配置硬件革新：
采用半導體接收器，分辨率較傳統品牌比例接收品提高數倍,較傳統X-RAY精確度提高了50%以上， 在測試薄金（Au)方面表現更為突出。
（2）、超常保固期：2年（24個(gè)月），較其它品牌整機延長(cháng)一倍；
（3）、前沿的測量技術(shù)：所有產(chǎn)品均為美國*，
超低的售價(jià)：相對于其它品牌同檔次的機型售價(jià)降低了50%
