電鍍膜厚儀_金東霖對被測樣品發(fā)射一束一次X射線(xiàn)，樣品的原子吸收X射線(xiàn)的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線(xiàn)。每個(gè)化學(xué)元素會(huì )釋放出特定能量的X射線(xiàn)。通過(guò)測量這些釋放出的二次X射線(xiàn)的特征能量和強度，X射線(xiàn)分析儀就能夠對被測材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。
傳統的楔切法，光截法，電解法，都是有損檢測。而X射線(xiàn)它采用非接觸式穿透測量法，既不會(huì )傷害材料，更不會(huì )受板型、現場(chǎng)條件、潔凈度等因素的影響。并且測量穩定、準確還可以對大部分磁性或非磁性材料進(jìn)行測量。
電鍍膜厚儀_金東霖軟體說(shuō)明：
* 電腦操作系統 XP系統
* 測量膜厚元素范圍：元素周期表13—92號元素間的所有鍍層，
使用FP法充許各元素鍍層次序的自由組合測量層層次，zui多可以測量四層（加基材zui多五層）
* 儀器支持二種鍍層厚度計算方法
（1）、無(wú)標準片的FP法（Fundamental Parameter）全新數學(xué)計算方法。
FP法名詞解釋?zhuān)杭丛跊](méi)有標準塊的前提下，一樣能精確測量，此方式是通過(guò)儀器直接讀取鍍層元能量信息，通過(guò)各無(wú)素能量信號的強弱或設定的各無(wú)素比例參數，以一種數學(xué)的方式直接計算鍍的厚度。因為它不需要標準塊，因此它不受標準塊的限制，在沒(méi)有各種合金鍍層標準塊的情況下樣精確的測量各種二元、三元合金鍍層）到目前為止，bowman是世界上*可實(shí)現此種新型測試技術(shù)的膜厚測量品牌，此技術(shù)已使用了17年。
（2）、支持傳統的帶標準塊的檢量線(xiàn)法，即通過(guò)鍍層標準塊建立測試程式檔案測量相對應的鍍層厚度。
