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    超g分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU7000

    參考價(jià)面議
    具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準
    • 公司名稱(chēng)上海維翰光電科技有限公司
    • 品       牌
    • 型       號
    • 所  在  地上海
    • 廠(chǎng)商性質(zhì)其他
    • 更新時(shí)間2022/12/8 15:58:56
    • 訪(fǎng)問(wèn)次數403
    產(chǎn)品標簽:

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    上海維翰光電科技有限公司是一家擁有技術(shù)、經(jīng)營(yíng)和管理人才隊伍,著(zhù)重發(fā)展光學(xué)、精密機械、計算機相結合的(光、機、電一體化)光學(xué)儀器的開(kāi)發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售,具備較強的市場(chǎng)開(kāi)拓能力、光機電領(lǐng)域技術(shù)與產(chǎn)品的成套開(kāi)發(fā)制造能力公司主要經(jīng)營(yíng)自主研發(fā)產(chǎn)品有:工具顯微鏡,測量顯微鏡,生物顯微鏡,體視顯微鏡,金相顯微鏡,偏光顯微鏡,熒光顯微鏡,相襯顯微鏡,讀數顯微鏡,檢測顯微鏡,電子視頻顯微鏡,干涉顯微鏡,數碼顯微鏡、測量投影儀、 光學(xué)投影儀、工業(yè)投影儀、影像測量?jì)x、顯微成像系統、光學(xué)計量?jì)x器、物理光學(xué)儀器(偏光熔點(diǎn)儀,分光光度計,阿貝折射儀)、綜合光學(xué)測量?jì)x器(干涉顯微鏡,激光平面干涉儀,透鏡中心儀,平面平晶,標準線(xiàn)紋尺,測角儀,自準直儀,平行光管,內調焦望遠鏡 )金相設備(拋光機、鑲嵌機、切割機、磨拋機).硬 度 計(洛氏,布氏,維氏,里氏),顯微硬度計,塑料硬度計,橡膠硬度計,鉗式硬度計。等光學(xué)儀器及顯微測量軟件和光學(xué)儀器配件公司同時(shí)代理國外品牌儀器并長(cháng)期以來(lái)與其有著(zhù)良好的合作關(guān)系,是NIKON生物顯微鏡以及OLYMPUS工業(yè)顯微鏡特約合作伙伴,公司有專(zhuān)業(yè)的銷(xiāo)售及售后服務(wù)團隊,能為用戶(hù)提供完善的解決案和系統的培訓。廣泛應用于農牧、輕工、機械、電子、冶金、化工等行業(yè);衛生、教育、國防等部門(mén)及各大專(zhuān)院校、科研單位
    偏光熔點(diǎn)儀
    產(chǎn)品說(shuō)明: 1.采用*異的成像技術(shù) SU7000可以迅速獲取從大視野quan貌圖到表面微細結構等多種檢測信號。新設計的電子光學(xué)系統和檢測系統,使得裝置可以同時(shí)接收二次電子和背散射電子...
    超g分辨肖特基場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU7000 產(chǎn)品信息
    1.采用*異的成像技術(shù) SU7000可以迅速獲取從大視野quan貌圖到表面微細結構等多種檢測信號。新設計的電子光學(xué)系統和檢測系統,使得裝置可以同時(shí)接收二次電子和背散射電子等信號,用戶(hù)可以在短時(shí)間內獲得更*面的樣品信息。 2.采用多通道成像技術(shù) 隨著(zhù)用戶(hù)對成像需求的不斷增長(cháng),SU7000特新增了幾種探測器,還引進(jìn)了相應的成像功能。SU7000*多可同時(shí)顯示和保存

    1.采用*異的成像技術(shù)
    SU7000可以迅速獲取從大視野quan貌圖到表面微細結構等多種檢測信號。新設計的電子光學(xué)系統和檢測系統,使得裝置可以同時(shí)接收二次電子和背散射電子等信號,用戶(hù)可以在短時(shí)間內獲得更*面的樣品信息。
    2.采用多通道成像技術(shù)
    隨著(zhù)用戶(hù)對成像需求的不斷增長(cháng),SU7000特新增了幾種探測器,還引進(jìn)了相應的成像功能。SU7000*多可同時(shí)顯示和保存6通道信號。實(shí)現了獲得樣品信息的*大化。
    3.支持不同形狀樣品、多種觀(guān)察方法
    1.大型樣品觀(guān)察;2.低真空觀(guān)察;3.超低溫觀(guān)察;4.實(shí)時(shí)觀(guān)察
    等所需的樣品倉和真空系統都shi分完備,觀(guān)察方法也是yi應俱quam。

    4.支持微納解析
    采用肖特基發(fā)射電子槍?zhuān)?大束流可達到200 nA,適用于各種微納解析。樣品倉形狀和接口設置支持EDX分析、EBSD、陰極熒光分析等,接口設備可通過(guò)選配附件滿(mǎn)足各種特s需求。
    成像能力
    追求信息*大化的檢測系統

    隨著(zhù)用戶(hù)對樣品數據的需求更加多元化,對檢測系統在短時(shí)間內捕捉更多的信息提出了更高的要求。SU7000的檢測系統可以在不改變WD等條件的前提下,更*效地獲取形貌、成分、晶體學(xué)以及發(fā)光等信息。真正實(shí)現了更快速、更*面的信息收集。

     
    同一條件觀(guān)察
    樣品:包裹有機物的金屬棒

    通過(guò)UD、MD、LD探測器同時(shí)采集信號的應用實(shí)例 (加速電壓:1 kV)

     
    通過(guò)UD、MD、LD探測器可以同時(shí)采集信號,UD可獲取表面微細形狀信息,MD可獲取表面有機物包覆狀態(tài)信息,LD可獲取整體凹凸形貌信息。在同一個(gè)條件下,實(shí)現了獲取信息的*大化。
    采用可多通道顯示的GUI設計
    優(yōu)化信號顯示功能

    成像單元在信號顯示上也作了*新升級。用戶(hù)可根據觀(guān)察需求,選擇不同的視場(chǎng)角和通道數。
    單屏*多可同時(shí)顯示4通道信號。
    導航功能(SEM MAP)可以輕松捕捉到顯示樣品倉內信息的CCD相機圖像和相機拍攝到的樣品圖像,快速顯示目標圖像。
    使用雙屏顯示時(shí),可在一個(gè)顯示屏上雙通道顯示1,280×960像素的圖像,另一個(gè)顯示屏專(zhuān)門(mén)用來(lái)顯示信號,*多可同時(shí)顯示6通道信號。

    高自由度的界面布局
    使用單屏時(shí),可以單通道、雙通道、四通道顯示樣品信息,也可以顯示CCD相機圖像、樣品臺圖像/SEM MAP圖像等。而且操作畫(huà)面上的工具欄可以任意移動(dòng)、添加和刪除。

     
    支持雙屏顯示
    1st顯示屏專(zhuān)門(mén)用來(lái)顯示圖像,2nd顯示屏用來(lái)顯示操作面板畫(huà)面。上圖左圖(1st顯示屏)是通過(guò)SU7000觀(guān)察到的鋼鐵中非金屬夾雜物的圖片。圖中清晰呈現出
    UD、LD、UVD、MD、PD-BSED5個(gè)探測器捕捉到的圖像以及SEM MAP圖。右圖(2nd顯示屏)將操作面板菜單和圖像歷史記錄窗口在同一個(gè)畫(huà)面中顯示,界面
    布局清晰明了。在實(shí)現實(shí)時(shí)監控圖像的同時(shí),操作性能也得到了進(jìn)一步提升。

    可擴展觀(guān)察和分析方法
    樣品倉和馬達臺
     

     
    樣品倉外觀(guān)標配18個(gè)附件接口                               馬達臺外觀(guān)XY軸可移動(dòng)距離為135×100 mm

    樣品倉可搭載*大直徑為φ 200 mm;*高80 mm的樣品。大開(kāi)倉設計,標配18個(gè)附件接口。樣品臺可搭載XY軸*大移動(dòng)距離為135×100 mm,*重2 kg的樣品。搭載大型樣品和功能樣品臺*全不成問(wèn)題。

    支持動(dòng)態(tài)觀(guān)察的檢測系統
    SU7000可用于環(huán)境改變的動(dòng)態(tài)觀(guān)察。低真空觀(guān)察時(shí),可以選用PD-BSED(背散射電子探測器)、UVD、MD等各種探測器(**)。 
    低真空環(huán)境的探測器選擇
    左圖為通過(guò)MD(背散射電子),右圖為通過(guò)UVD(二次電子)探測器觀(guān)察到的金屬氧化物纖維的情況。兩張圖分別清晰地呈現出氧化物的分散狀態(tài)和纖維的堆積情況。
    PD-BSED:響應速度提高
    左圖是以一般的響應速度,約每?jì)擅霋呙枰淮蔚玫降膱D像;右圖抑制了圖像的漂移,使得整體的畫(huà)質(zhì)得到了大幅提升。隨著(zhù)響應速度的提高,更適用于In-Situ觀(guān)察。

    技術(shù)參數

    項目 內容
    圖像分辨率 二次電子分辨率 0.8 nm/15 kV
    0.9 nm/1 kV
    放大倍率 20~2,000,000 x
    電子槍 發(fā)射體 ZrO/W熱場(chǎng)發(fā)射(肖特基熱場(chǎng)發(fā)射)
    加速電壓 0.1~30 kV (步進(jìn):0.01 kV)
    束流 *大200 nA
    探測器 標準探測器 UD (上探測器)
    MD (中探測器)
    LD (下探測器)
    選配探測器*1 PD-BSED (半導體式背散射電子探測器)
    UVD(高靈敏度低真空探測器 )
    低真空模式*1 樣品倉壓力范圍 5~300 Pa
    可使用探測器 PD-BSED, UVD, UD, MD, LD
    馬達臺 馬達臺控制 5軸馬達驅動(dòng)
    移動(dòng)范圍 X 0~135 mm
    Y 0~100 mm
    Z(WD) 1.5~40 mm
    T(傾斜角) -5~70°
    R(旋轉角) 360°
    樣品尺寸 *大直徑:φ200 mm, *大高度:80 mm
    顯示器*1 23英寸LCD (1,920×1,080), 支持雙屏
    圖像顯示模式 全屏顯示模式 1,280×960像素顯示
    單屏顯示模式 800×600像素顯示
    雙屏顯示模式 800×600像素顯示、1,280×960像素顯示 *2
    四屏顯示模式 640×480像素顯示
    六屏顯示模式*2 640×480像素顯示 *2
    圖像數據保存 保存圖像尺寸 640×480、1,280×960、2,560×1,920、5,120×3,840、10,240×7,680
    選配附件 能譜儀(EDX)
    X射線(xiàn)波譜儀(WDX)
    電子背散射衍射(EBSD)
    陰極熒光探測器(CL)
    冷凍傳輸系統
    各種功能樣品臺
    *1為選配項。
    *2支持雙屏顯示。
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