日立TM系列zhuan用能譜儀(EDS) Quantax75TM4000 系列根據應用和預算提供多個(gè) EDS 系統供您選擇。 所有檢測器均采用緊湊型設計,不需要 LN2。
通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線(xiàn)面分布
移動(dòng)到制定位置,可實(shí)時(shí)確認其譜圖
雙屏顯示
僅*選擇圖像和模板,即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí),實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線(xiàn)分析結果等多種分析。

高的性能(hyper map)成就了一次測試即可獲取點(diǎn)分析、線(xiàn)分析、面分布結果點(diǎn)分析
可根據點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖,輕松確認目標元素。

實(shí)時(shí)在線(xiàn)譜峰剝離面分布
分離出常規面分布圖像中的譜峰重疊元素,并顯示正確結果。
項目 | 內容 |
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探測器類(lèi)型 | 硅漂移探測器 |
探測器面積 | 30 mm2 |
能量分辨率 | 148 eV (Cu-Kα) (Mn-Kα時(shí)不高于129 eV) |
可檢測元素 | B5~Cf98 |