背散射電子圖像分辨率：3.0 nm @ 30keV（低真空模式）
二次電子圖象分辨率：3.0 nm @ 30keV
加速電壓：0.2~30 kV
放大倍數：2~1,000,000 x
儀器種類(lèi)：鎢燈絲
TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應用范圍很寬，包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的技術(shù)是基于一個(gè)集成的EDX系統執行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了的數據采集速度，進(jìn)而得到快速、準確和可靠的結果。
TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場(chǎng)發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統提供高真空模式為標準，低真空模式為選配。
大樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時(shí)容納7塊直徑為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒（BSE信號校準）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統性能檢查）。標準校準的元素可以根據客戶(hù)要求定制。
軟件標配：
分析&測量
柱狀圖
圖像處理
3維掃描
硬度測量
多圖像校準
對象區域
定時(shí)關(guān)機
公差測量
定位
Live Video
EasySEMTM
軟件選配：
根據實(shí)際配置和要求
配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測量
壓差式防碰撞報警裝置
可觀(guān)察樣品室內部的紅外線(xiàn)攝像頭等，各種配件可供選擇
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島津離子色譜儀
泰思肯集成礦物分析儀 TIMA-X（GM） 產(chǎn)品信息
