背散射電子圖像分辨率：2.0nm @ 15keV
二次電子圖象分辨率：1.2nm @ 30keV
加速電壓：0.2~30 kV
放大倍數：1~1,000,000 x
儀器簡(jiǎn)介：
TIMA3 LMU/LMH FEG是一款基于場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡設計的集成式礦物分析專(zhuān)家，適用于采礦和礦物處理行業(yè)的應用。TESCAN的技術(shù)是基于一個(gè)集成的EDX系統，能以非?？斓乃俣葓绦腥V掃描，可用于礦石特性檢測、工藝優(yōu)化、修復技術(shù)和貴金屬與稀土的尋找。SEM和EDX硬件的集成水平實(shí)現了以的采集速度自動(dòng)化的數據采集，并得到快速、準確和可靠的結果。
最重要的特性：
通過(guò)高水平的SEM和EDX硬件集成實(shí)現了快速、自動(dòng)化的數據采集；
基于MIRA SEM平臺；
新設計的樣品臺集成了BSE/EDX校正標準和法拉第杯；
根據客戶(hù)的需求更改樣品的尺寸；
最多集成4個(gè)EDX探測器確保系統的性能；
新的Peltier冷卻型EDX探測器確保熱穩定性；
改進(jìn)的方法使數據分析既快又可靠；
根據樣品的每個(gè)部分可調整掃描和EDX分析的時(shí)間；
離線(xiàn)數據處理；
各種各樣的數據分析模塊；
可自定義的分類(lèi)規則；
可定制的解決方案。
TESCAN集成式礦物分析儀（TIMA）是一款新型的自動(dòng)礦物分析的掃描電子顯微鏡，適用于采礦和礦物加工行業(yè)。TIMA可以對塊狀、薄片或拋光切片樣品進(jìn)行自動(dòng)礦產(chǎn)豐度分析、粒度解離分析、礦物組合分析和顆粒尺寸分析。
TIMA的應用范圍很寬，包括礦石性質(zhì)、工藝優(yōu)化、修復、貴金屬和稀土的尋找等。TESCAN的技術(shù)是基于一個(gè)集成的EDX系統執行快速的全光譜掃描。 SEM與EDX硬件的一體化技術(shù)提供了的數據采集速度，進(jìn)而得到快速、準確和可靠的結果。
TIMA硬件
TESCAN TIMA基于MIRA肖特基場(chǎng)發(fā)射或者VEGA鎢燈絲掃描電子顯微鏡。MIRA鏡筒的特殊設計（電子槍的恒真空與隔絕閥）提高了發(fā)射的穩定性和鎢燈絲的使用壽命。該系統提供高真空模式為標準，低真空模式為選配。
大樣品室、由計算機控制的超快樣品臺、礦物樣品支持器的特殊設計。樣品臺可以同時(shí)容納7塊直徑為30mm的樣品。樣品臺內可放入直徑25 mm至32 mm的樣品。樣品臺有EDX/BSE校準標準、鉑Faraday筒（BSE信號校準）與錳、 銅、 石英、碳和金元素（系統性能檢查）。標準校準的元素可以根據客戶(hù)要求定制。
配件：
二次電子探頭
背散射電子探頭
探針電流測量
壓差式防碰撞報警裝置
可觀(guān)察樣品室內部的紅外線(xiàn)攝像頭等，各種配件可供選擇
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島津離子色譜儀
集成礦物分析儀 TIMA-X FEG（LM） 產(chǎn)品信息
