質(zhì)量分辨率：＞800
質(zhì)量分析范圍：1-2500
原始束流或速能量：30 kV
儀器種類(lèi)：飛行時(shí)間
TESCAN 電鏡質(zhì)譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯(lián)用系統
電子顯微分析是材料和生命科學(xué)微觀(guān)分析中最重要的一環(huán)，而元素分析是其中最重要的表征手段之一，但標準的分析手段如能譜儀和波譜儀存在很多不足，例如因靈敏度不足、空間分辨率較差，無(wú)法進(jìn)行輕元素、微量元素的分析，無(wú)法分辨同位素等等，普通的分析手段已不能滿(mǎn)足現階段應用的需求。
TESCAN 提供的解決方案是將飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜與 FIB-SEM 系統集成。這種組合能夠為用戶(hù)提供固體材料的 3D 化學(xué)表征和分子信息，高離子質(zhì)量分辨率和高空間分辨率成像等，并可以進(jìn)行原位 FIB 深度分析。
飛行時(shí)間-二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）
TOF-SIMS(Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry) 是具有分辨率的質(zhì)譜儀，工作原理是用聚焦離子束照射樣品表面，從而在樣品最上層的原子層激發(fā)出二次離子 (SI），再根據不同質(zhì)量的二次離子飛行到探測器的時(shí)間不同來(lái)測定離子質(zhì)量。
與 EDX 相比，TOF-SIMS 可以實(shí)現更好的橫向和縱向分辨率，還可以識別并定量樣品表面層中存在的元素和分子物質(zhì)，以及具有類(lèi)似標稱(chēng)質(zhì)量的同位素和其他物質(zhì)等。
系統主要優(yōu)勢：
高靈敏度，Be，B和Li之類(lèi)的輕元素檢出限可達ppm級
優(yōu)異的空間分辨率，橫向分辨<><15>
正負離子均可檢測，離子質(zhì)量分辨率>800
2維和3維快速、高離子質(zhì)量分辨率和高空間分辨率成像，進(jìn)行原位FIB深度分析
通過(guò)坐標轉移，保證不同儀器分析位置的重合
廈門(mén)質(zhì)匯科技有限公司主要從事機電設備，材料分析設備，環(huán)保設備，化學(xué)分析設備與實(shí)驗室耗材等相關(guān)產(chǎn)品的銷(xiāo)售與批發(fā)。同時(shí)提供實(shí)驗室相關(guān)的電子測量、材料分析、理化檢測等科技領(lǐng)域的技術(shù)開(kāi)發(fā)，技術(shù)咨詢(xún)，技術(shù)服務(wù)等業(yè)務(wù)。我司和多個(gè)國際品牌生產(chǎn)廠(chǎng)商建立了關(guān)系, 如泰克(Tektronix)、吉時(shí)利、福祿克(FLUKE)、()、島津、賽默飛、鉑金埃爾默、尼康、蘇州東菱，愛(ài)斯佩克，優(yōu)萊博，廣東貝爾、北京陸橋等。廈門(mén)質(zhì)匯科技有限公司將秉持以誠為本、以質(zhì)匯友的精神及時(shí)高效地為用戶(hù)提供一整套專(zhuān)業(yè)的服務(wù)。
島津離子色譜儀
TESCAN 電鏡質(zhì)譜 FIB-SEM-TOF-SIMS 聯(lián)用系統 產(chǎn)品信息
