詳細摘要： 1) 支持超大/超重樣品測試 可搭載的樣品尺寸：“SU3800" 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對高度為80mm、重量為2kg的樣品?！癝U390...
產(chǎn)品型號：所在地：深圳市更新時(shí)間：2025-01-10 在線(xiàn)留言深圳市汐品科技有限公司
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深圳市汐品科技有限公司
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詳細摘要： 1) 支持超大/超重樣品測試 可搭載的樣品尺寸：“SU3800" 標配可搭載直徑200mm樣品的樣品倉，可應對高度為80mm、重量為2kg的樣品?！癝U390...
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詳細摘要： 無(wú)論您是否需要顯微鏡進(jìn)行教育、培訓或日常實(shí)驗室工作：Primostar 3 都是易于使用、緊湊且持久的工具，即使在空間限的環(huán)境中，您的投資也成為長(cháng)時(shí)間工作的正確...
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詳細摘要： 日立高新磁控濺射器（Hitachi Ion Sputter )MC1000采用了電磁管電極，能夠限度地減輕對樣品的損壞，并在樣品表面涂覆一層均勻粒子。適用于高分...
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詳細摘要： 日立高新離子研磨裝置IM4000（HITACHI Ion Milling System IM4000）具有斷面加工和平面研磨功能的混合儀器！日立高新離子研磨裝置...
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詳細摘要： 日立ArBlade 5000離子研磨系統能夠實(shí)現高產(chǎn)量，并制備廣域橫截面樣品?！ ‰x子研磨系統使用通過(guò)在表面上照射氬離子束引起的濺射效應來(lái)拋光樣品的表面。樣品預...
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詳細摘要： 臺式掃描電子顯微鏡(SEM)全新升級。我們以“更高畫(huà)質(zhì)、更易于使用、更易于觀(guān)察"為理念，開(kāi)發(fā)出TM4000系列。在此基礎上，我們又推出功能更為多樣的TM4000...
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詳細摘要： 熱場(chǎng)式場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡 SU5000
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詳細摘要： 核心理念采用優(yōu)異的成像技術(shù)SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細結構等多種檢測信號。全新設計的電子光學(xué)系統和檢測系統，使得裝置可以同時(shí)接收二次電子和背...
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詳細摘要： MI4050是具有以下特征的高性能聚焦離子束系統：新型電子光學(xué)系統，可達到高水準的SIM像分辨率?大束流使加工速度得以提升?提高了低加速電壓的分辨率，使得高品質(zhì)...
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詳細摘要： 追求的TEM樣品制備工具在設備及高性能納米材料的評價(jià)和分析領(lǐng)域，FIB-SEM已成為的工具。近來(lái)，目標觀(guān)察物更趨微細化；更薄，更低損傷樣品的制備需求更進(jìn)一步凸顯...
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詳細摘要： 追求理想的三維結構分析通過(guò)自動(dòng)重復使用FIB制備截面和進(jìn)行SEM觀(guān)察，采集一系列連續截面圖像，并重構特定微區的三維結構。采用的鏡筒布局，從材料、設備到生物組織—...
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詳細摘要： 1. 搭載兩種透鏡模式的高性能SEM鏡筒HR模式下可實(shí)現高分辨觀(guān)察（半內透鏡）FF模式下可實(shí)現高精度加工終點(diǎn)檢測（Timesharing Mode）2. 高通量...
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